技术指标
元素分析范围从钾(K)到铀(U)。
分析含量一般为1ppm到99.9%。
可测试镀层厚度zei薄至0.05um。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回归程序。
多次测量重复性可达0.1%。
长期工作稳定性为0.1%。
标准配置
与仪器一体化设计的包装箱。
四组可切换滤光片。
激光定位装置。
带铅屏蔽罩封闭样品腔。
SI-PIN探测器。
信号检测电子电路。
一体化微型端窗X光管。
无线蓝牙连接PDA掌上电脑。
自带充电电路的大容量锂电池和交流转直流适配器。
外观尺寸: 359×247×173 mm(带箱)
315×188×129 mm(不带箱)
样品腔尺寸:137×122×35 mm
重量:9Kg
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经销商
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X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪)
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