日立分析 EA1400 X射线荧光分析仪

EA1400：高通量RoHS分析

EA1400台式XRF分析仪采用领先的检测技术，结合创新的X射线光学设计，可以快速分析包括较轻元素在内的RoHS物质。

EA1400提供：

• 高性能SDD检测器可提高计数率，从而提高来自块状物料的痕量元素的分辨率

• 优化的X射线照射方法意味着对不平坦和不规则表面的分析具有更高的重现性

• 可以在定义的测量时间之前使用内置软件确定通过/失败

• 真空选项可为较轻的元素提供卓越的测量能力

• 黄铜中镉的筛选速度是通用型号的两倍，可实现更高的通量

• 除RoHS筛选外，EA1400还具有区分炉渣（硅，钙，铝和镁）、聚合物、矿物、化学物质和其他材料中的主要成分的能力。

对于各种应用领域的客户，例如水泥或矿渣的过程和质量控制，异常点的故障分析，异物检查以及RoHS检查，EA1400可以减少测量时间，简化了测量结果的管理，减少操作错误，提高效率。

新开发的硅漂移检测器（SDD）

高灵敏度和高通量测量

新型探测器在高能区域中具有更高的量子效率，可以对CdKα，PdKα，BaKα能带进行高灵敏度，高通量测量。

更高的分辨率和更高的计数率

与以前的型号（EA1200VX [参见图表]或EA1000VX）相比，由于其高分辨率，高计数率的SDD，EA1400在检测样品主要成分附近的痕量元素方面表现出色，从而在质量控制等任务中表现出卓越的性能金属和其他。

真空系统和新的SDD

通过使用新的检测器和真空系统，极大地提高了轻元素的灵敏度，该系统有助于炉渣和水泥的过程和质量控制。

从RoHS控制到广泛的领域

RoHS：更快地筛选黄铜中的Cd

与以前的型号（EA1000VX）相比，在测量黄铜和其他金属中的痕量Cd时，通量提高了一倍以上。

• *显示的数据仅为示例，不能视为保证的性能。

冶炼过程控制：快速，准确地测量炉渣中的主要元素

冶炼工艺条件是根据炉渣主要成分的信息进行控制的。硅，钙，铝，镁 新的SDD使用轻元素（例如Mg）可显着提高精度。

质量控制：检测粘附的，掩埋的异物

使用X射线对角线照射系统，很难测量表面不均匀或不规则且污染物粘附在基材上的样品。EA1400配备了优化的X射线照射和样品观察机制，可检测和识别源自污染物的元素。