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您现在所在的位置:首页 >> 仪器导购 >> X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪)>> 天瑞Thick800A X荧光镀层测厚仪

天瑞Thick800A X荧光镀层测厚仪

tel: 400-6699-117 7000

天瑞仪器X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪), 针对镀层厚度测量、镀层元素种类及含量的快速无损分析......

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技术指标

型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg

标准配置

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

厂家资料

地址:江苏省昆山市中华园西路1888号

电话:400-6699-117 转 7000

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