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JIB-4610F聚焦离子束双束(FIB)

tel: 400-6699-117 6205

日本电子扫描电镜SEM, 聚焦离子束 双束 场发射

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技术特点

【技术特点】-- JIB-4610F聚焦离子束双束(FIB)



主要特点:

  1. 监控、切割、组装和三维图像重构连续操作
     2.离子大束流,zei大90nA ,加工速度超快
     3.电子大束流,zei大200nA,EDS/WDS/EBSD/CL分析效率超高
     4.3D观察、3D分析 
     5.气体注入系统用于刻蚀和沉积
     6.zei大装样 150 mm
     7.气锁式样品交换
     8.六轴全对中样品台
     9.多个样品分析接口,如冷台、冷冻传输样品台等

    10.可以配合本公司特殊透射电镜样品杆,加工后直接观察透射


【技术特点对用户带来的好处】-- JIB-4610F聚焦离子束双束(FIB)


【典型应用举例】-- JIB-4610F聚焦离子束双束(FIB)



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