微区X射线荧光光谱仪(MICRO-XRF)
M4 TORNADO
固体、镀层、颗粒和液体样品的元素分析
配置灵活
测试快速准确
<20 μm 光斑大小
聚焦X射线多导毛细管
1 ms 单个像素像素点最短停留时间
面扫描中样品台移动速度可高达 100 mm/s
12 镀层分析
可选配XMethod软件分析多层镀层样品
高性能微区XRF,具有市场领先的分析速度和功能多样性
M4 TORNADO 是使用小光斑微区 X 射线荧光进行样品表征的首选设备。其测量结果能够提供样品的相关成分和元素分布的信息,甚至样品表面下元素分布信息。Bruker微区X射线光谱仪经过优化,可对任何类型的样品的点、线和二维区域扫描(Mapping)进行高速分析; 样品类型可为固态,液态,颗粒等。
靶材产生的X 射线经过多导毛细管聚焦后,在保证荧光强度的同时可产生极小的光斑。M4 TORNADO 可选配多个Bruker XFlash 硅漂移探测器 (SDD),可在不影响能量分辨率的情况下实现荧光信号的高吞吐量处理。
M4 TORNADO 还可额外选配第二根X 射线光管,它提供了不同的靶材以及准直器,可实现设备分析功能的极大拓展。
其他可选高级配置选项:
He吹扫能够极大提高轻元素检测灵敏度,使得设备可在样品仓常压下对轻元素检测
可快速更换的地质样品测试支架,适用于矿物薄片和岩芯测试
XMethod 软件,支持用户自主建立包含镀层在内的多样定量分析方法
用于矿物 分析的AMICS 软件
M4 TORNADO 如何支持您的分析?
测量时间短。优化的 X 射线光路、高通量探测器、“On-the -fly“ mapping ,单点测试时间可低至 1 ms。
测量样品高达 7kg。大型真空样品仓,可自由调节真空度,最低可至2mbar,自动He或N2吹扫,可检测含水样品中的轻元素。
单次面扫描面积高达 190 x 160 mm2 的面积。单次扫描多达 4000万像素点 。数据存储为HyperMap,包含所有像素点光谱信息以及光学图像。
定量分析单点,线扫描,面扫描测试结果。配置的基本参数方法,可选的XMethod软件包,实现对镀层等样品的准确定量。
处理数据。强大的分析软件,可在面扫描结果中选择任意对象(椭圆,矩形,多边形)进行光谱提取,线扫描数据提取,最大像素光谱,相分析。
扩展功能。可结合用户实际需求提供定制化配置,以满足您的分析需求。
微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析方法。
M4 TORNADO采用了技术,为各种用户提供了佳的分析性能和方便的操控性。
· 采用多导毛细管聚焦镜,照射光斑小,空间分辨率高。
· 涡轮增速X-Y-Z样品台,借助放大倍数可变的摄像系统获得的样品影像,可在“飞行中”进行元素分布分析。
· 通过可选的双X射线光管和多6个滤光片进行灵活的激发。
· 使用XFlash®探测器高速地获取样品图谱,另外,使用多个探测器可以进一步提高测量速度。
· 基于无标样分析法准确定量分析块状样品,准确分析多层膜样品。
· 具有便捷进样功能的可抽真空的样品室
行业应用:
1.地球科学(岩心、岩石、沉淀物、微体化石、年轮等多元素分布成像、行扫描与相序分析。)
2.司法鉴定、法医及痕量分析(对衣物上的弹孔进行射击残留物GSR分析)
3.艺术与考古(对文物进行颜料、色料的成分分析,修复文物)
4.质量控制与故障分析仪(电子和电子部件元素分析,ROHS分析)
5.发动机部件、电机/润滑油(识别电机/润滑油中的发动机磨损产物)
6.生命科学(检查树木横断面/叶子/树根年轮)
7.材料科学(钢材腐蚀检验)
8.环境科学(土壤重金属、污水污泥重金属分析、空气和城市废物)
9.过滤器上的薄膜(空气滤膜)
微区X射线荧光光谱仪(MICRO-XRF)
M4 TORNADO
固体、镀层、颗粒和液体样品的元素分析
配置灵活
测试快速准确
<20
μm
光斑大小
聚焦X射线多导毛细管
1
ms
单个像素像素点最短停留时间
面扫描中样品台移动速度可高达 100 mm/s
12
镀层分析
可选配XMethod软件分析多层镀层样品
高性能微区XRF,具有市场领先的分析速度和功能多样性
M4 TORNADO 是使用小光斑微区 X 射线荧光进行样品表征的首选设备。其测量结果能够提供样品的相关成分和元素分布的信息,甚至样品表面下元素分布信息。Bruker微区X射线光谱仪经过优化,可对任何类型的样品的点、线和二维区域扫描(Mapping)进行高速分析; 样品类型可为固态,液态,颗粒等。
靶材产生的X 射线经过多导毛细管聚焦后,在保证荧光强度的同时可产生极小的光斑。M4 TORNADO 可选配多个Bruker XFlash 硅漂移探测器 (SDD),可在不影响能量分辨率的情况下实现荧光信号的高吞吐量处理。
M4 TORNADO 还可额外选配第二根X 射线光管,它提供了不同的靶材以及准直器,可实现设备分析功能的极大拓展。
其他可选高级配置选项:
He吹扫能够极大提高轻元素检测灵敏度,使得设备可在样品仓常压下对轻元素检测
可快速更换的地质样品测试支架,适用于矿物薄片和岩芯测试
XMethod 软件,支持用户自主建立包含镀层在内的多样定量分析方法
用于矿物 分析的AMICS 软件
M4 TORNADO 如何支持您的分析?
测量时间短。优化的 X 射线光路、高通量探测器、"On-the -fly" mapping ,单点测试时间可低至 1 ms。
测量样品高达 7kg。大型真空样品仓,可自由调节真空度,最低可至2mbar,自动He或N2吹扫,可检测含水样品中的轻元素。
单次面扫描面积高达 190 x 160 mm2 的面积。单次扫描多达 4000万像素点 。数据存储为HyperMap,包含所有像素点光谱信息以及光学图像。
定量分析单点,线扫描,面扫描测试结果。配置的基本参数方法,可选的XMethod软件包,实现对镀层等样品的准确定量。
处理数据。强大的分析软件,可在面扫描结果中选择任意对象(椭圆,矩形,多边形)进行光谱提取,线扫描数据提取,最大像素光谱,相分析。
扩展功能。可结合用户实际需求提供定制化配置,以满足您的分析需求。
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Micro-XRF 应用示例 无损分析
应用示例
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