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微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO

tel: 400-6699-117 1000

布鲁克X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪), 微区XRF,灵敏度高,空间分辨率高......

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技术特点
【技术特点】-- 微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO

微区X射线荧光光谱仪(MICRO-XRF)

M4 TORNADO

固体、镀层、颗粒和液体样品的元素分析

配置灵活

测试快速准确

<20 μm 光斑大小

聚焦X射线多导毛细管

1 ms 单个像素像素点最短停留时间

面扫描中样品台移动速度可高达 100 mm/s

12 镀层分析

可选配XMethod软件分析多层镀层样品

高性能微区XRF,具有市场领先的分析速度和功能多样性

M4 TORNADO 是使用小光斑微区 X 射线荧光进行样品表征的首选设备。其测量结果能够提供样品的相关成分和元素分布的信息,甚至样品表面下元素分布信息。Bruker微区X射线光谱仪经过优化,可对任何类型的样品的点、线和二维区域扫描(Mapping)进行高速分析; 样品类型可为固态,液态,颗粒等。

靶材产生的X 射线经过多导毛细管聚焦后,在保证荧光强度的同时可产生极小的光斑。M4 TORNADO 可选配多个Bruker XFlash 硅漂移探测器 (SDD),可在不影响能量分辨率的情况下实现荧光信号的高吞吐量处理。

M4 TORNADO 还可额外选配第二根X 射线光管,它提供了不同的靶材以及准直器,可实现设备分析功能的极大拓展。

其他可选高级配置选项:

  • He吹扫能够极大提高轻元素检测灵敏度,使得设备可在样品仓常压下对轻元素检测

  • 可快速更换的地质样品测试支架,适用于矿物薄片和岩芯测试

  • XMethod 软件,支持用户自主建立包含镀层在内的多样定量分析方法

  • 用于矿物 分析的AMICS 软件 


M4 TORNADO 如何支持您的分析?

测量时间短。优化的 X 射线光路、高通量探测器、“On-the -fly“ mapping ,单点测试时间可低至 1 ms。

测量样品高达 7kg。大型真空样品仓,可自由调节真空度,最低可至2mbar,自动He或N2吹扫,可检测含水样品中的轻元素。

单次面扫描面积高达 190 x 160 mm2 的面积。单次扫描多达 4000万像素点 。数据存储为HyperMap,包含所有像素点光谱信息以及光学图像。

定量分析单点,线扫描,面扫描测试结果。配置的基本参数方法,可选的XMethod软件包,实现对镀层等样品的准确定量。

处理数据。强大的分析软件,可在面扫描结果中选择任意对象(椭圆,矩形,多边形)进行光谱提取,线扫描数据提取,最大像素光谱,相分析。

扩展功能。可结合用户实际需求提供定制化配置,以满足您的分析需求。



    微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析方法。

M4 TORNADO采用了技术,为各种用户提供了佳的分析性能和方便的操控性。

·  采用多导毛细管聚焦镜,照射光斑小,空间分辨率高。

·  涡轮增速X-Y-Z样品台,借助放大倍数可变的摄像系统获得的样品影像,可在“飞行中”进行元素分布分析。 

·  通过可选的双X射线光管和多6个滤光片进行灵活的激发。

·  使用XFlash®探测器高速地获取样品图谱,另外,使用多个探测器可以进一步提高测量速度。

·  基于无标样分析法准确定量分析块状样品,准确分析多层膜样品。

·  具有便捷进样功能的可抽真空的样品室


 行业应用:

1.地球科学(岩心、岩石、沉淀物、微体化石、年轮等多元素分布成像、行扫描与相序分析。)

360截图20200220181959113.jpg

2.司法鉴定、法医及痕量分析(对衣物上的弹孔进行射击残留物GSR分析)

360截图20200220182007766.jpg

3.艺术与考古(对文物进行颜料、色料的成分分析,修复文物)

360截图20200220182026009.jpg

4.质量控制与故障分析仪(电子和电子部件元素分析,ROHS分析)

5.发动机部件、电机/润滑油(识别电机/润滑油中的发动机磨损产物)

6.生命科学(检查树木横断面/叶子/树根年轮)

7.材料科学(钢材腐蚀检验)

8.环境科学(土壤重金属、污水污泥重金属分析、空气和城市废物)

9.过滤器上的薄膜(空气滤膜)




【技术特点对用户带来的好处】-- 微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO


【典型应用举例】-- 微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO

【产品所获奖项】-- 微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO

微区X射线荧光光谱仪(MICRO-XRF)

M4 TORNADO

固体、镀层、颗粒和液体样品的元素分析

配置灵活

测试快速准确

<20

μm

光斑大小

聚焦X射线多导毛细管

1

ms

单个像素像素点最短停留时间

面扫描中样品台移动速度可高达 100 mm/s

12

镀层分析

可选配XMethod软件分析多层镀层样品

高性能微区XRF,具有市场领先的分析速度和功能多样性

M4 TORNADO 是使用小光斑微区 X 射线荧光进行样品表征的首选设备。其测量结果能够提供样品的相关成分和元素分布的信息,甚至样品表面下元素分布信息。Bruker微区X射线光谱仪经过优化,可对任何类型的样品的点、线和二维区域扫描(Mapping)进行高速分析; 样品类型可为固态,液态,颗粒等。

靶材产生的X 射线经过多导毛细管聚焦后,在保证荧光强度的同时可产生极小的光斑。M4 TORNADO 可选配多个Bruker XFlash 硅漂移探测器 (SDD),可在不影响能量分辨率的情况下实现荧光信号的高吞吐量处理。

M4 TORNADO 还可额外选配第二根X 射线光管,它提供了不同的靶材以及准直器,可实现设备分析功能的极大拓展。

其他可选高级配置选项:

  • He吹扫能够极大提高轻元素检测灵敏度,使得设备可在样品仓常压下对轻元素检测

  • 可快速更换的地质样品测试支架,适用于矿物薄片和岩芯测试

  • XMethod 软件,支持用户自主建立包含镀层在内的多样定量分析方法

  • 用于矿物 分析的AMICS 软件 


M4 TORNADO 如何支持您的分析?

测量时间短。优化的 X 射线光路、高通量探测器、"On-the -fly" mapping ,单点测试时间可低至 1 ms。

测量样品高达 7kg。大型真空样品仓,可自由调节真空度,最低可至2mbar,自动He或N2吹扫,可检测含水样品中的轻元素。

单次面扫描面积高达 190 x 160 mm2 的面积。单次扫描多达 4000万像素点 。数据存储为HyperMap,包含所有像素点光谱信息以及光学图像。

定量分析单点,线扫描,面扫描测试结果。配置的基本参数方法,可选的XMethod软件包,实现对镀层等样品的准确定量。

处理数据。强大的分析软件,可在面扫描结果中选择任意对象(椭圆,矩形,多边形)进行光谱提取,线扫描数据提取,最大像素光谱,相分析。

扩展功能。可结合用户实际需求提供定制化配置,以满足您的分析需求。

 

00:00 / 02:48

 

 

 

 

 

Micro-XRF 应用示例 无损分析

应用示例




厂家资料

地址:北京海淀区西小口路66号中关村东升科技园B-6号楼C座8层

电话:400-6699-117 转1000

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