测量原理:X射线荧光光谱法
测量方式:能量色散
测量样品类型:固体、液体或粉末
测定范围: 13Al ~ 92U(μEDX-1200型,μEDX-1400型); 11Na ~ 92U(μEDX-1300型)
zei大样品尺寸:宽200mm宽 × 300mm深 × 40mm 高
测量气氛:大气
X射线发生器
X射线管:Rh靶
管电压:5 kV ~ 50 kV
管电流:1 uA ~ 1000 μA
冷却方式:空气冷却(带风扇)
X射线覆盖方法:集束毛细管透镜
照射直径:约50 μm
暴露区域:标配10 mm 直径(可在4种设置间自动切换:1 mm、3 mm、5 mm和10 mm直径)
1次滤光片(主滤光片):在5种1次滤光片间自动交换(Al, Ti, Ni, Zr, OUT)
检测器(μEDX-1200型,μEDX-1300型):
类型:Si(Li)半导体检测器
液氮供应:仅在测量时需要
杜瓦瓶容量:3 L
氮气消耗:约1 L/天
测量区域:30 mm2
检测器(μEDX-1400型):
类型:Si漂移半导体检测器
冷却方法:电子冷却
液氮供应:不需要
测量区域:5 mm2
样品腔:
测量气氛:空气
样品观察:CCD相机
传输图像观测单元(选项)
检测器类型:闪烁计数器
样品台
zei大:100 宽 × 100 深 × 40 高 mm
zei大装载重量:2 kg
工作距离:6.5 mm(μEDX-1200型,μEDX-1400型);1.5 mm(μEDX-1300型)
样品观测单元
CCD:双CCD
倍率:可在低/高倍率间切换
聚焦:自动聚焦
数据处理硬件:主流计算机,彩色打印机,WindowsXP
软件
样品观测:可控荧光强度;视角转换;实时调整观测尺寸(RSSV)
定性分析:平滑;捕峰;自动鉴定/手动鉴定;峰适应
定量分析:校准曲线法、FP法、薄膜FP法、BG-FP法;包括基质校正和内标校正的校正功能;厚度计算模拟
图像分析
步进图像,线分析
高速图像(μEDX-1200型,μEDX-1300型)
全景(定性)图像
同时测定传输的图像(*选配安装传输图像观测单元)
元素叠加
选择伪色彩,浓缩,鸟眼(bird's eye)或网格显示
滤光计算处理
生成报告:简单报告(显示图像和分析结果);总结报告(显示图像和多点分析结果);表格(显示统计结果);生成控制图和直方图
匹配:四种匹配模式;根据成分和强度作图
网络功能:对分析完成和错误进行Email通知;分析结果的传输
维护功能:单元监视器:连续监视X射线输出、计数率等;自动控制:X射线开/关周期操作;单元校正:自动校正能量和半峰宽
简单操作软件
定性分析:测定•解析软件
定量分析:
匹配软件:强度/容量
功能:自动校正功能(能量校正、半峰宽校正)
其它:系统状态监控功能;分析结果列表功能;分析结果报告创建功能
安装要求:
温度:周围温度18℃~28℃
相对湿度:40% ~ 70%
电源:100 ~ 120 VAC,6A,50/60 Hz;200 ~ 240 VAC,3A,50/60 Hz;接地
外部尺寸:
单元(宽×深×高 mm):486×649×704
控制器(宽×深×高 mm):215×490×464
重量:主单元约85 kg;控制器约15 kg
经销商
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X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪)
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