技术参数：

检测器 光电倍增管探测器
 InGaAs 检测器
 Si 探测器
 近红外波段分束器 CaF2, Ge涂层，防潮
 波长范围 833-4000nm
 杂散光<0.00008%T 傅立叶中红外光谱
 <0.0008%T (1420nm, H2O)
 <0.005%T (2365nm, CHCl3) 　
 光谱分辨率 优于2cm-1(0.3nm在1250nm处)
 信噪比, 1min, 4cm -1 >15000
 100% 透光率精度 不大于±0,5% (测量条件为: 4950～5050 cm-1 波段, 光谱分辨率 4 см1,20 次扫描)
 波长准确性 傅立叶中红外波段: ±0.25nm
 NIR: ±0.65nm
 扫描速度 (傅立叶中红外波段 ) 约12500nm/min
 (傅立叶近红外 :/InGaAs) 约 12500nm/min
 (傅立叶近红外/Si )约 125000nm/min
 基线稳定性
 小于±0.0002A/h
 (1500nm, for 2 sec)
 
 光源 钨灯
 钨灯
 包含光轴自动调整机构
 操作系统
 WINDOWS2000/XP
 
 
 仪器尺寸 520x370x250
 样品室尺寸 150W x190D x 170Hmm
 重量 65 Kg
 额定功率 80W
 供电 220V，50Hz