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日本电子Serial Block-face SEM 3View与SEM组合使用观测附件三维重构

tel: 400-6699-117 6205

日本电子扫描电镜SEM, 肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针,与View®2XP(Gatan公司制造)结合使用,能对样品进行自动切割,自动获取图像。通过对获得的图像进行三维重构,可以对精细结构进行三维分析。

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JSM-7100FJSM-7800F
分辨率1.2nm (30kV)、3.0nm (1kV)0.8nm (15kV)、1.2nm (1kV)
加速电压0.5~30kV0.01~30kV
放大倍率x 10~1,000,000x 25~1,000,000



 

 3View®2XP
切割厚度15~200nm (生物类样品 25~50nm)
切割速度0.1~1.2mm / 秒
刀片的切割距离1.2mm
样品台驱动范围X/Y: ±700μm Z: 600μm


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