【技术特点】-- 日本电子IB-09060CIS低温冷冻离子切片仪

• IB-09060CIS™　低温冷冻离子切片仪

• 易受热损伤的样品，也能方便地制作出薄膜样品和截面样品。冷却保持时间长，有效地抑制了热损伤

产品特点：

• 带有样品冷却系统，对容易受热损伤的样品也可以进行截面制备的离子切片仪。

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• ①通过液氮制冷，减轻了离子照射时对样品造成的热损伤。

• ②可以用于制备TEM的薄膜样品和SEM的截面样品*

• ③冷却保持时间长，大大减少了热损伤。

• ④在装有液氮的情况下，也可以交换样品。

• *zei大样品尺寸:2.8mm(长度)×1.0 mm(宽度)×0.1mm(厚度)。

【技术特点对用户带来的好处】-- 日本电子IB-09060CIS低温冷冻离子切片仪

【典型应用举例】-- 日本电子IB-09060CIS低温冷冻离子切片仪