产品规格
FIB
离子源 | Ga (镓)液态金属离子源 |
加速电压 | 1~30kV(5 kV/步) |
放大倍率 | ×60 (用于视场搜索) ×200~×300,000 |
图像分辨率 | 5 nm (30 kV) |
zei大束流 | 60 nA (at 30 kV) |
可变光阑 | 12 档(马达驱动) |
离子束加工形状 | 矩形、线状、点状 |
样品台 | 块状样品用 5 轴测角样品台 X:±11 mm Y:±15 mm Z:0.5 ~ -23 mm T:-5 ~ +60° R:360°无限 样品zei大尺寸: 28 mmφ(高度13 mm)、50 mmφ(高度2 mm) |
主要附件
气体注入系统 (IB-02100GIS2)
碳沉积圆筒 (IB-52110CDC2)
钨沉积圆筒(IB-52120WDC2)
白金沉积圆筒 (IB-52130WDC2)
侧插式测角样品台 (IB-01040SEG)
束流探测器 (IB-04010PCD)
操作面板(IB-05010OP)
样品台导航系统 (IB-01200SNS)
FIB Tip-on(尖端上可以安装附件的)样品架(EM-02210)
FIB 块状样品用样品架FIB (EM-02220)
FIB 块状样品用样品架1(EM-02560FBSH1)
FIB 块状样品用样品架2 (EM-02570FBSH2)
FE-SEM 样品架适配器 (EM-02580FSHA)
穿梭移动夹头Shuttle Retainer EM-02280 (EM-02280)
原位样品提取系统 (EM-02230)
经销商
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 日本电子JIB-4000 聚焦离子束加工观察系统 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
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扫描电镜SEM
售后服务
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