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EA1000AIII X射线荧光分析仪

tel: 400-6699-117 6246

日立分析仪器X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪), 通过将可选项的精度管理型软件进一步升级,并使之成为标准配备,实现了低价格化。......

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技术特点

【技术特点】-- EA1000AIII X射线荧光分析仪

1. 低价格入门型机型

与本公司原有机型(SEA1000AⅡ)保持相同价格,同时通过全新采用硅半导体检测器、以及电气控制系和机械驱动的高速化,与原有机型(SEA1000AⅡ)相比较,平均检测时间缩短至1/3,并将以往的可选项、需另行购买的「环境限制物质测定软件Ver.2」变成了标准配置。

2. 环境限制物质测量软件Ver.2的各种新功能强化了有害物质测量功能-材料判断功能

测量开始后只需少许时间就可判断样品的材质种类。以往,在测量前需要选择分析方法,有了自动判断材质的装置,在分析方法的选择上就不会再有困惑了。

3. 操作性的提高-操作面板-

操作面板上的指示器和电子音可以提示测量进行的状态。通过测量面板上的进度条,可以把握测量的进度。

4. 多种环境限制用的标准物质

除RoHS指令的限制对象元素(Cd,Pb,Hg,Br,Cr)以外,本公司还开发并制造了标准物质,其适用于以氯(Cl)为首的,锑(Sb)和锡(Sn)等的管理。

5. 样品转换器(可选项)

装载了可zei多对12个样品进行连续测量的样品转换器。

6. 基于环境限制物质测量软件Ver.2实现了数据的集中管理和趋势管理

精度管理软件不仅缩短了测量时间,通过采用数据库对场所内测量数据的集中式管理(检索・阅览・解析・编辑・印刷・报告生成),还提高了检测的效率,降低了成本。


概要:

通过将可选项的精度管理型软件进一步升级,并使之成为标准配备,实现了低价格化。与以往仪器相比,环境管制物质的测量时间大幅缩短,材料辨识功能、分析线切换功能、清晰易懂的操作面板……易用性大大提高,分析速度更快,操作更简单。 


型号:EA1000AIII

测量元素:原子序数13(Al)~92(U)

样品形态:固体、粉末、液体

射线源:X射线管球(Rh靶材)    

管电压:最大50kV  管电流:最大1000μA

检测器:Si半导体检测器

分析领域:Φ1mm,Φ3mm,Φ5mm (自动切换)

样品观察:彩色CCD摄像头

滤波器:5种模式自动切换

样品室:370(W) ×320(D) ×120(H)mm

定性分析:能谱测量、自动辨别、KLM标示表示、差异表示

定量分析:块体校准曲线、块体FP法

有害物质测量功能:环境管制物质测量软件Ver.2、Dbeasy  材料辨识、分析线切换、波峰分离显示功能、波峰标记功能等

数据处理:配备EXCEL、配备WORD

外形尺寸:520(W)×600(D)×445(H)mm

安装尺寸:1500(W)×1000(D)

重量:约60kg

使用电源(主机):AC100~240V±10%单相

选购项:自动进样器、能谱匹配软件、薄膜FP软件、各种标准物质 


特长:

1.通过快速测量提高测量效率

与以往机型相比,每个树脂与金属样品的测量时间*均大幅缩短。每天的处理量实现跨越式增长。

*包涵统计误差(3σ)达到Cd 20 mg/kg、Pb、Hg、Br、Cr 100mg/kg以下所需的切换时间。


2.材料辨识功能

测量开始后,可在短时间内(25秒以下)识别待测样品的材质。材料大体分为树脂(PE、PVC)、AI合金、Fe合金、Cu合金、Sn合金等。即使不清楚样品的材质,也无需为如何选择分析方法而困惑。

   ●材料辨识测量模式

     识别待测样品的材料类型,自动选择推荐的分析方法

   ●材料辨识自动测量模式

     识别待测样品的材料类型后,自动选择适合的分析方法进行测量,并显示结果。所有步骤实现全自动处理。

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3.分析线切换功能

本功能是由仪器判断所含元素与波峰的重叠情况,并自动选择统计误差较小的分析线。可以更加有效地管理精度、提高测量效率。


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4.大型样品室与自动进样器(选购项)

大容量样品室可轻松测量大型样品。自动进样器最多可连续测量12个样品,可轻易将微小的样品置于正确的测量位置上。

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环境限制物质测量软件Ver.2

●通过精度管理软件优化测量时间(Ver.1已有功能)

●利用数据库对各网点的测量数据进行集中管理(搜索、游览、分析、编辑、打印、制作报告)

●对于之前曾经测过的同一样品,可比较两次的测量结果

●除了RoHS分析、卤素分析、玩具分析、Sb、Sn分析之外,还可自由添加需要管理的元素

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【技术特点对用户带来的好处】-- EA1000AIII X射线荧光分析仪


【典型应用举例】-- EA1000AIII X射线荧光分析仪



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