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梅特勒-托利多微量分析天平 XPE105

tel: 400-6699-117 9999

梅特勒托利多天平/电子天平/分析天平, StaticDetect™静电检测和静电消除技术,加上先进的SmartGrid网格秤盘为您提供具有重复性的可靠结果。创新......

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梅特勒XPE105分析天平技术参数:

稳定时间: 2.5 sec
尺寸 宽度: 263.0 mm
尺寸 深: 487.0 mm
尺寸 高度: 322.0 mm
秤盘外形尺寸 深: 78.0 mm
秤盘外形尺寸 宽度: 73.0 mm
Material Number: 30087635


QQ图片20170930175918.png


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地址:上海市徐汇区桂平路589号

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