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Talos Arctica G2冷冻透射电子显微镜

tel: 400-6699-117 8899

赛默飞透射电镜TEM, Talos TEM 是新一代的透射电镜,快速获得二维或三维数据,以便您能聚焦于发现。该系统的恒功率, c-双透镜提供优异......

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X-射线安全性:X-射线辐射≤1 μSv/hr ,在0.1 m距离安全测试中,使用X射线传感器

FEG探针电流:探针电流在1nm点尺寸,X-FEG:>1.2nA

信息限制:≤ 0.23 nm,在零试样倾斜时;≤ 0.34 nm,在 -70度 和 +70度 试样倾斜时

Thon 圆环:在超出2.7 nm-1空间频率 (对应于 0.37 nm分辨率)时, 在-2 μ m 离焦的Ptlr样品图像的旋转平均功率谱内,Thon圆环可见

样品交换后漂移:交换后zei大漂移值: 

5 min: 1.2 nm/s (LM 概览)

15 min: 0.45 nm/s (目标区)

30 min: 0.25 nm/s (开始断层成像)

60 min: 0.05 nm/s (开始EPU)


自动加载性能:以下过程应无错误地运行: 4 盒磁带中的每一个都装满 6 AutoGrids 并停靠。接下来, 将进行清点, 并将每个 AutoGrid 加载到该列中一次。

STEM分辨率(选项):< 0.23 nm 

断层扫描 (选项):

重现性X, Y ≤ 0.4 um 期间α倾斜从-70度 到 + 70度

Eucentricity X, Y ≤ 2 um 在α倾斜期间从-70度 到 + 70度

Eucentricity 散焦≤ 4 um 在α倾斜期间从-70度 到 + 70度


EPU(选项):示例数据组为15张图像,显示正确的目标区域被成像了



1513440354165535.jpg





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