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赛默飞200 kV场发射透射电镜Talos F200i TEM

tel: 400-6699-117 8899

赛默飞透射电镜TEM, 用于高通量、高分辨率化学表征和动态观察的 TEM 和 STEM 分析。......

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技术特点
【技术特点】-- 赛默飞200 kV场发射透射电镜Talos F200i TEM

赛默飞200 kV场发射透射电镜Talos F200i TEM 

  • 高质量、高分辨率的 (S)TEM 成像和灵活的 EDS 

  • 可使用高分辨率、高亮度(冷)场发射枪 

  • 可提供双 EDS,以获得较高的分析通量


Talos F200i TEM

用于高通量、高分辨率化学表征和动态观察的 TEM 和 STEM 分析。

Talos F200i 透射电子显微镜 

Thermo Scientific Talos F200i S/TEM 是一款 20-200 kV 场发射(扫描)透射电子显微镜,专为各种材料科学样品和应用要求的性能和生产率而设计。其标准的 X-Twin 极靴间隙在应用中具有较高的灵活性,且与高再现的电子镜筒相结合时,可用于为高分辨 2D 和 3D 表征、原位动态观察和衍射应用。

Talos F200i 透射电子显微镜优势

Talos F200i  S/TEM 专为多用户和多学科环境设计,也是初级用户的理想选择。其配备在所有 Thermo Scientific TEM 平台上共享、能够快速熟悉的 Thermo Scientific Velox 用户界面。所有 TEM 的日常调整均自动完成,以提供最佳的、可重现性最高的设置。 Align Genie 自动化软件简化了新手操作员的学习曲线,降低了多用户环境中的紧张关系,并提高了经验丰富的操作员的数据获取时间。 此外,可在配置中添加侧面插入的可伸缩能量色散 X 射线光谱 (EDS) 监测器来进行化学分析。

紧凑型设计

Talos F200i 的占地面积和尺寸较小,可适应更具挑战性的空间。此外,这种紧凑型设计降低了维修时的接触难度,同时也降低了基础设施和支持成本。

所有用户的生产率

为进一步提高生产率,尤其是在多用户多材料环境中,恒定功率物镜、低滞后设计以及使用 SmartCam 摄像机进行远程操作可实现直接可重现的模式和高张力切换。Talos F200i  S/TEM 还提供在线学习帮助。将鼠标指针悬停在控制面板上后,只需按 F1 即可快速打开相关信息。

 

Talos F200i 透射电子显微镜功能

主要特点

可搭配众多高分辨率场发射枪 (FEG)

选择 X-FEG、高亮度 X-FEG 或超高亮度冷场发射枪 (X-CFEG)。X-CFEG 将极佳 (S)/TEM 成像及极佳能量分辨率相结合。 

可搭配双 EDS 技术

从单个 30 mm² 检测器到用于高通量(或低剂量)分析的双 100 mm² 检测器中,选择最适合您需求的 EDS 检测器。

高质量 STEM/TEM 图像和准确的 EDS

创新且直观的 Velox 软件用户界面非常简单,从而轻松获得高质量的 TEM 或 STEM 图像。Velox 软件中独特的 EDS 吸收校正功能可实现最准确的定量。

最全面的原位功能

添加断层扫描或原位样品架。快速摄像机、智能软件和我们的宽 X-TWIN 物镜间隙可在尽可能不降低分辨率和分析功能的情况下实现 3D 成像和原位采集。

提高了生产率

超稳定的色谱柱、借助 SmartCam 的远程操作和恒定功率物镜,可进行快速模式和高电压 (HT) 切换。多用户环境的快速轻松切换。

可重复性最高的数据

所有日常 TEM 调整、例如聚焦、共心高度、电子束移位、冷凝器光阑、电子束倾斜枢轴点和旋转中心都是自动进行的,确保您始终从最佳成像条件开始工作。实验可重现,使您可以专注于研究,而不是工具。

高速提供大视野成像

4k × 4k Ceta CMOS 摄像机及其大视野使得可以在整个高张力范围内以高灵敏度和高速进行实时数字缩放。

紧凑型设计

更小的占地面积和尺寸有助于在更具挑战性的空间中使用此工具,同时降低基础设施和支持成本。



性能数据

TEM
  • 线分辨率: ≤0.10 nm

操作 系统XX 单元
  • 控制器:Windows® 10 

  • 远程控制:是  

真空系统
  • 气锁抽气:无油和无振动

  • 冷阱:标准

  • 长时间杜瓦瓶:可选配 - 至少 4 天待机时间(重新补充之间)

STEM 成像
  • STEM 分辨率:  

    • ≤0.16 nm (S-FEG/X-FEG) 

    • ≤0.14 nm ,100pA (X-CFEG)

  • 检测器: HAADF 和/或同轴 Panther BF/DF

能量色散 X 射线光谱 (EDS)
  • 检测器尺寸 (Bruker X-flash):30、100 或 双 100 mm2

  • 可伸缩: 是,电动

电子能量损失光谱 (EELS)
  •  ≤0.8 eV (S-FEG/X-FEG)

  •  ≤0.3 eV (X-CFEG)

枪亮度 200 kV
  • 4×108 A /cm2 srad (S-FEG) 

  • 1.8×109 A /cm2 srad (X-FEG) 

  • 2.4×109 A /cm2 srad (X-CFEG)



【技术特点对用户带来的好处】-- 赛默飞200 kV场发射透射电镜Talos F200i TEM


【典型应用举例】-- 赛默飞200 kV场发射透射电镜Talos F200i TEM

【产品所获奖项】-- 赛默飞200 kV场发射透射电镜Talos F200i TEM

2017年10月19日,成都 —— 科学服务领域的世界领导者赛默飞世尔科技(以下简称:赛默飞)在2017全国电子显微学学术年会举办期间展出全新高效灵活、更适合材料科学研究的Thermo ScientificTM TalosTM F200i场发射透射电子显微镜(S/TEM),并进行现场演示。这一产品于今年9月份zei新面世,此次推出也是在中国市场的首次亮相。2017全国电子显微学学术年会是电子显微学及技术发展前沿、交流基础研究和应用研究新进展的高水平学术大会。此会议汇集了来自国内外数百名知名显微学领域的专家和学者。


  赛默飞材料与结构分析电镜业务总经理及副总裁Trisha Rice、赛默飞材料与结构分析电镜业务亚太区副总裁荆亦任、赛默飞材料与结构分析中国区高级商务总监陈厅行等一同参加了此次盛会。“Thermo ScientificTM TalosTM F200i场发射透射电子显微镜是专门针对中国客户的需求进行设计,”赛默飞材料与结构分析电镜业务亚太区副总裁荆亦任指出,“兼具高度自动化的高性能系统,配置灵活、体积小巧,是多用户实验室中各类应用的理想之选。”


  Thermo ScientificTM TalosTM F200i场发射透射电子显微镜(S/TEM)具备zei高高压200kV的高性能,能够以定制的方式满足客户成像和化学分析的需求。该产品拥有先进的自动化功能,可确保较高的分析效率,并且能在不同的用户权限之间快速、轻松地进行切换。其直观的界面使用户可在各种实验室应用中进行高分辨成像和分析,除此之外,该系统较小的体积及简介的外观设计不但为后期的使用维护提供便利,也减少了对安装现场基础设施的需求。


  会议期间,赛默飞选用了单晶硅样品及钛酸锶样品向客户展示其性能。通常透射电子显微镜的实验室对环境条件的要求都比较高,事实证明,该电镜产品在会场这样的条件下也能获取优异的结果,参会代表纷纷对于其高性能的表现给出了高度的肯定及评价。


  “我们希望中国的客户在赛默飞的助力下,获得更加丰富的有挑战性的研究成果,在世界材料科学领域的研究中,做出更加突出的贡献,”赛默飞材料与结构分析电镜业务副总裁Trisha Rice表示, “事实证明,近些年来,赛默飞的产品帮助我们的客户在高影响因子的期刊上发表的文章越来越多,更有一些成果已经应用到了日常生活中。我们相信在双方共同的努力和合作下,材料科学研究领域的明天会更好。”


赛默飞材料与结构分析电镜业务副总裁Trisha Rice在大会上发表演讲


  赛默飞一直以来在全球范围内帮助更多科学家在创新探索的道路上取得突破。近日公布的2017年诺贝尔化学奖表彰了三位科学家在冷冻电镜(cryo-EM)技术领域的杰出贡献,三位科学家都使用了由赛默飞制造的仪器帮助他们完成研究。此次Thermo ScientificTM TalosTM F200i场发射透射电子显微镜(S/TEM)的盛装亮相,再一次显示了赛默飞通过冷冻电镜帮助更多科学家取得世界前瞻性研究成果的不断努力。




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