Metrios TEM透射电镜半导体工业
tel: 400-6699-117 转 8899FEI透射电镜TEM, 第一个致力于半导体工业的 TEM;致力于提供快速, 精确的测量;基本的 TEM 操作和测量程序的广泛的自动化zei大限度......
在线客服
产品型号:Metrios TEM半导体工业
品牌:FEI
产品产地:捷克
产品类型:进口
原制造商:FEI
状态:在售
厂商指导价格: 2000~3000万元[人民币]
上市时间: 2013-08-02
英文名称:TEM
优点:第一个致力于半导体工业的 TEM;致力于提供快速, 精确的测量;基本的 TEM 操作和测量程序的广泛的自动化zei大限度地减少对专业操作员训练的要求。其先进的自动化计量例程提供了比手动方法更高的精确度。Metrios TEM 的目的是为客户提供更高的吞吐量和更低的每样成本。
参考成交价格: 2000~3000万元[人民币]
仪器导购
透射电镜TEM
其他推荐
厂家资料
地址:上海市浦东新区张江高科技园区盛夏路399号8号楼
电话:400-6699-117 转 8899
经销商
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 Metrios TEM透射电镜半导体工业 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
如果您是,请告诉我们,我们的邮件地址是:sales@antpedia.net 请说明: 1.产品名称 2.公司介绍 3.联系方式 |
评论
我来点评售后服务
登记我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。
产品调查
查看标准
- GB/T 2679.11-1993 纸和纸板中无机填料和无机涂料的定性分析 电子显微镜/X射线能谱法
- GB/T 26826-2011 碳纳米管直径的测量方法
- T/CNTAC 21-2018 纤维中石墨烯材料的鉴别方法 透射电镜法
- GB/T 18907-2013 微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法
- SAE J1752/3-1995 集成电路辐射发射的测量-Tem/宽带 Tem(Gtem)电池方法; Tem Cell(150 Khz 至 1 Ghz)、宽带 Tem Cell(150 Khz 至 8 Ghz)
- GB/T 27765-2011 SiO<下标 2>、TiO<下标 2>、Fe<下标 3>O<下标 4>及Al<下标 2>O<下标 3>纳米颗粒生物效应的透射电子显微镜检测方法
- JIS E 3303:1977 铁路信号用透镜、滤色镜、反射镜及半密封部件
- SAE J1752/3-2003 集成电路 TEM/宽带 TEM(GTEM)单元法的辐射发射测量; TEM 小室(150 kHz 至 1 GHz)、宽带 TEM 小室(150 kHz 至 8 GHz)
- GB/T 20724-2021 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
- JY/T 011-1996 透射电子显微镜方法通则