NanoWizard 4 NanoScience纳米科学原子力显微镜

Specifications

Atomic lattice resolution on inverted microscope in closed-loop (< 0.030nm RMS z noise level)

Ultra-low noise level of cantilever deflection detection system<2pm RMS (0.1Hz-1kHz) and high detector bandwidth of 8MHz for high speed signal capture

Tip-scanning, stand-alone system, with a rigid low-noise design and drift-minimized mechanics – the best choice for simultaneous AFM and laser scanning (LSM) experiments

IR deflection detection light source with low coherence for interference-free measurements

The only liquid-safe AFM with integrated vapor barrier, special encapsulated piezo drives and tip-moving design

Transmission illumination with standard condensers for precise brightfield, DIC and phase contrast

Scanner unit

Best closed-loop AFM on the market for reproducible tip positioning and long time position stability

100 x 100 x 15μm3 scan range

Position noise level<0.15nm RMS in xy (in closed-loop) and 0.06nm RMS sensor noise level in z (3kHz bw)

Vortis™ SPMControl electronics

State-of-the-art digital controller with lowest noise levels and highest flexibility

View all control electronics options

SPMControl software

True multi-user platform (perfect for imaging facilities)

User-programmable software

Fully automated sensitivity and spring constant calibration using thermal noise or Sader method

Patented DirectOverlay™ for combined optical and AFM information

Outline™ mode for precise selection of a new scan area in the optical image

Improved ForceWatch™ mode for force spectroscopy and imaging for cantilever-drift free measurements

Comprehensive force measurement with TipSaver™

Advanced spectroscopy modes such as various force clamp modes or ramp designs, e.g. for temperature ramps, pulling speed or force feedback

Powerful Data Processing (DP) functions with full functionality for data export, fitting, filtering, edge detection, 3D rendering, FFT, cross section, etc.

Powerful batch processing of force curves and images including

WLC, FJC, step-fitting, JKR, DMT model and other analyses

规格

闭环上倒置显微镜的原子晶格解析 (0.030nm RMS z 噪声电平)

悬臂偏转检测系统的超低噪声等级下午2点 RMS (0.1Hz-1 赫) 和高检测带宽的8MHz 高速信号捕获

尖端扫描, stand-alone 系统, 具有刚性低噪音设计和漂移zei小化的力学-同时 AFM 和激光扫描 (LSM) 实验的zei佳选择

低相干红外偏转检测光源的无干扰测量

唯一的液体安全 AFM 与集成蒸汽屏障, 特殊封装压电驱动器和尖端移动设计

标准冷凝器用于精密明、DIC 和相衬的透射照明

扫描仪单元

zei佳闭环 AFM 在市场上的可再生尖端定位和长时间位置稳定性

100 x 100 x 15μm3 扫描范围

位置噪声电平 0.15nm rms 在 xy (在闭环) 和 0.06nm rms 传感器噪声水平在 z (3kHz bw)

Vortis™ SPMControl 电子

zei先进的数字控制器, zei低的噪音水平和zei高的灵活性

SPMControl 软件

真正的多用户平台 (完美的成像设备)

用户可编程软件

利用热噪声或 Sader 法进行全自动灵敏度和弹簧恒定标定

zl DirectOverlay™的光学和 AFM 联合信息

光学图像中新扫描区域精确选择的 Outline™模式

悬臂-漂移自由测量的力谱和成像改进 ForceWatch™模式

TipSaver™的综合力测量

先进的光谱学模式, 如各种力钳模式或斜坡设计, 如温度斜坡, 牵引速度或力反馈

强大的数据处理 (DP) 功能, 具有完整的数据输出、拟合、滤波、边缘检测、3D 渲染、FFT、剖面等功能。

强大的批处理的力量曲线和图像包括

WLC、FJC、台阶拟合、JKR、铲模及其他分析

参考技术指标：杭州电子科技大学 电镜等设备 QSZB-H-C17126HDZ

一、用途：对材料的纳米结构、性能进行表征，可对材料的磁学性能、电学性能等进行表征，呈现高分辨形貌相。

二、工作条件

1.电源：220V 1500W；

2.环境温度：10℃～35℃；

3.环境湿度：10%～85%。

三、技术参数

1.控制器：

1.1 包含三个全数字锁相放大器，可提供定量相位成像功能：－180到＋180全线性相位成像，可直接实现纵向和横向压电响应模式；

1.2 八通道数据采集，像素点从256*256至少到5120*5120，单条扫描线的采样点应不少于16000点；

1.3 具有Digital Q Control功能，提高信噪比，可提高10X或降低10X。

★2.扫描器：

2.1 扫描范围：XY方向不小于：90um×90um，Z方向不小于10um；

2.2 扫描器为三方向闭环扫描器；

2.3 XY方向的闭环噪音水平：<0.15nm RMS值；

2.4 Z方向的闭环噪音水平：<0.035nm RMS值；

2.5 XY方向的开环噪音水平：<0.10nm RMS值；

2.6 Z方向的开环噪音水平：<0.03nm RMS值。

3.防震台：进口气动防震隔音台，具有隔离电磁信号功能，横向和纵向频率均达到1Hz；

4.噪音水平及分辨率：整机的噪音水平要求低于0.03nm RMS值；

★5.样品台：

5.1 尺寸不小于210mm直径，厚度不小于15mm；

5.2 为马达驱动自动样品台；

5.3 具有真空吸附功能；

5.4 可360度旋转。

6.扫描模式：至少包含以下模式

6.1 contact mode(接触模式)；

6.2 tapping mode(轻敲模式)；

6.3 Phase imaging（相位成像）；

6.4 Lift mode(抬起模式)；

6.5 LFM（横向力显微镜）；

★6.6 TR mode（扭转共振模式）；

6.7 MFM，TR-MFM（磁力显微镜，横向磁力显微镜），MFM模式能测量面外磁畴分布，TR-MFM模式能测量面内磁畴分布；

6.8 EFM（静电力显微镜）；

6.9 surface potential(表面电势成像)；

6.10 Force distance（力曲线）；

6.11 Force volume(力曲线阵列)；

6.12 PR-Mode（压电响应成像模式），既能测量纵向的压电响应，又能测量横向的压电响应；

★6.13 ScanAsyst成像模式，对操作者没有经验要求，即使对于很软的、很粘的样品，只要能把样品安装上就可获得高质量的图像。既可工作在大气下又可工作在液态下，并且不需要寻找探针的共振频率；

★6.14 Peak Force Tapping模式，此模式采用力曲线的峰值力作反馈，应可精确控制针尖与样品之间的相互作用力小至几十pN，减少针尖的磨损和样品损伤，提高横向分辨率；

6.15 Conductive AFM(导电原子力显微镜)；

6.16应能精确地测量样品上的各种力学性能：标定探针弹性常数，测试频率应达到2MHZ，可适应各种弹性常数探针的标定需要。

7.光学定位系统：

7.1 视场范围：180um~1465um；

7.2 CCD像素点不低于500万；

7.3 光学分辨率不低于2um。

8.配套计算机：可满足设备正常运转需要，配置不低于CPU：四核 2.3GHz，内存：8G，硬盘：500G，光驱：DVD RW，不小于30英寸液晶显示器；

9.图像处理及分析软件：提供无安装次数限制的离线处理及分析软件，可免费升级。离线处理及分析软件应包含下列分析功能：

9.1 图像处理功能：图像拉平，高斯滤波，高通滤波，低通滤波，图像清洁，图像反转，傅立叶变换，两幅图像相减，图像旋转，图像缩放等功能；

9.2 图像分析功能：横截面分析，台阶高度检测，PSD分析，颗粒尺寸分析，面积计算，体积计算，粗糙度分析，斜率测量，表面纹理测量，二维图像显示，三维图像显示等功能。

10.具有可升级性和功能拓展性。

四、其他

1.交货期：信用证开出后45天内；

2.安装培训内容及方式：培训由资深工程师执行，时间不少于5个工作日。其地点为采购人指定安装现场，培训内容包括：仪器工作原理及仪器的操作、软件操作及应用、日常维护事宜；

3.具备可靠的服务能力，中国境内有固定的维修点及备件仓库，专业的售后服务工程师，质保期内非人为因素损坏不收取零部件及其他费用，并提供终身售后服务。接到采购人维修邀请后，4小时内电话响应，若需现场维修，72小时内到达现场进行维修服务。

4.质保期满后，保证可以提供及时的售后服务，优惠的备件供应；

5.技术文件

5.1 设备的安装、操作手册；

5.2 设备的维修保养手册；

5.3 设备的工作软件说明书。