ORTEC GEM40P4-76 实验室高纯锗γ谱仪

系统特性：

在计数率从低到高的情况下，系统都能保证很好的测量精度；全面保证探测器的各项指标，

能量响应范围宽，分辨率优异；

高纯锗探测器 GEM40P4-76

能量分辨率 FWHM： 对 122 keV 峰（Co-57）：≤ 870 eV；

对 1.332 MeV 峰（Co-60）：≤ 1.85 keV

相对探测效率： ≥40%

能量响应范围： 40 Kev – 10 Mev

峰康比： ≥ 64：1

峰形参数： FW0.1M/FWHM ≤1.9，FW.02M/FWHM ≤ 2.6

端窗： 碳纤维窗，直径 76mm

冷指结构： 采用 PopTop 可拆卸冷指

数字化谱仪 DSPEC-jr2.0-POSGE

-zei大数据通过率：大于 100kcps（低频抑制器 LFR 关闭）；大于 34kcps（低频抑制器 LFR 开启）；

-具有低频噪声抑制（LFR，基于解决低活度测量时环境可能造成的噪声问题）、自动zei优化、自动极零（Auto PZ，基于解决高计数率情况下分辨率变差问题）、零死时间校正（ZDT，基于解决高计数率，尤其是动态测量下死时间校正的准确性问题）和虚拟示波器等功能；

-液晶屏显示，能随时显示探测器晶体温度、高压状况、增益/零点稳定性、实时间/活时间和计数率等信息；USB2.0 接口；

-系统变换增益（存储器分段）：由计算机选择为 16,384，8192，4096，2048，1024 或 512道；

-积分非线性 ≤0.025%；微分非线性≤1%；

-数字化稳谱器：由计算机控制并稳定增益和零点；

-温度系数： 增益:<35ppm/℃ ；零点:<3 ppm/℃；

-脉冲抗堆积：自动设定域值，脉冲对分辨率为 500ns。

中文平台无源效率刻度软件 GammaClib（可选）

基于 Monte Carlo 方法对探测器进行表征，适于在实验室对水泥、矿石、钢铁、气体、土壤、树脂等样品在 70keV 至 7MeV 能段内进行无源效率曲线刻度，要求具有先进的 CAD建模能力。要求在国内有良好的技术支持能力。

液氮装置（液氮/电致冷二选其一）：

垂直冷指 CFG-PV4；

冷指延长棒 CRE-1；

30 升杜瓦瓶 DWR-30。

30 升液氮存储罐 STD-30L（国内采购）；

自增压液氮传输装置 WD/50（国内采购）；

液氮传输软管 TL-12（国内采购）。

低本底铅室 HPLBS1(或国产铅室)

-系统本底：小于 2cps(40keV-2MeV)

-铅室内腔尺寸：28cm 直径×40cm 高, 顶开门

-铅室主体由外到内的构造：9.5mm 低碳钢外衬、101mm 老铅、0.5mm

锡和 1.6mm 软铜内衬

-铅室主体外形尺寸：51cm 直径×63cm 高

-铅室支架尺寸：61cm 长×61cm 宽×77cm 高

-净重量：1134Kg

系统应适应的外部条件

-温度：5~30℃；

-相对湿度：小于 80%；

-地面承重：大于 1.6 吨；

-三相交流 200~240V, 50Hz，可靠接地