岛津能量色散X射线荧光光谱仪EDX-LE Plus：
技术参数：
1. 测定原理 X射线荧光分析法
2. 测定方法 能量色散型
3. 测定对象 固体、液体、粉状
4. 测定范围 13Al -92U
5.样品室尺寸 较大W370mm×D320mm×H155mm
6. 制冷方式 电子制冷
7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换
8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析
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经销商
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X荧光光谱/XRF（能量色散型X荧光光谱仪）
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