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梅特勒XPE205分析天平

tel: 400-6699-117 9999

梅特勒托利多天平台/天平罩, 始终确保可靠称量......

在线客服

  • 重复性

    40.0mg

  • 测量精度

    0.1g

  • zei大量程

    64.1kg

  • 仪器量程

    200-500g

  • 仪器精度

    十分之一克

  • 仪器种类

    精密天平

梅特勒XPE新超越系列天平

 

查看大图

梅特勒托利多XPE205分析天平

量程及可读性:220g/0.01mg,校准方式:内部校准。


梅特勒XPE205分析天平独特的性能:

StaticDetect™静电检测和静电消除技术,加上先进的SmartGrid网格秤盘为您提供具有重复性的可靠结果。创新型StatusLight™天平就绪指示灯以及利用TestManager™测试管理功能轻松进行日常测试可提高您的质量管理且易于合规。

梅特勒XPE205分析天平技术参数:

量程:220.0g,可读性:0.01 mg,最小称量值:4.0 mg,重复性:0.015mg,线性误差(典型值±)0.1mg

稳定时间: 2.5 sec
尺寸 宽度: 263.0 mm
尺寸 深: 487.0 mm
尺寸 高度: 322.0 mm
秤盘外形尺寸 深: 78.0 mm
秤盘外形尺寸 宽度: 73.0 mm
Material Number: 30087653

厂家资料

地址:上海市徐汇区桂平路589号

电话:400-6699-117 转 9999

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