【技术特点】-- XPE 微量分析天平

zei大秤量达到 52g，可读性为 1ug，重复性达到 1.5ug

XPE 微量分析天平将zei大秤量与zei小秤量有机的结合在一起。 可直接在较大的去皮容器中加样，从而有效的节省贵重的原材料并
大幅降低实验成本。

XPE 微量分析天平对微量样品同样具有卓越的准确性。 快速、轻松、安全

天平可立即投入使用

StatusLight 状态指示灯通过颜色直观指示天平状态 绿色表示准备就绪，黄色表示警告，超出称量范围等错误用红色表示。

合规性一目了然。

zei大限度地减少静电

新型内置技术能够自动检测静电，并在结果超出允差范围时警告用户。

为了获得更高的过程安全性，可采用抗静电法中和电荷并确保获得zei准确的结果。。

无以伦比的称量速度及稳定性

独特的 SmartGrid 网格秤盘zei大程度地减小了空气湍流效应，与传统的秤盘相比，稳定时间极大的缩短。

不间断连续称量 – 任何溢出的样品会通过网格而落至托盘之上，从而不会对称量结果产生任何影响。 简单且安全可靠。

用户指导过程管理

梅特勒-托利多的 LabX® 实验室软件可在天平触摸屏上显示的灵活的 SOP 用户指南。 利用自动数据处理、计算和报告，具有 LabX 软件的天平可以轻松实现过程安全性和可追溯性要求，并支持您实现无纸化实验室。

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高效安全的称量

采用智能设计的 ErgoClips 易巧组件来直接称量更准确、更快，可适合任何工作环境。 为了尽可能获得更快的稳定时间，必须使用内置微量防风门
。

【技术特点对用户带来的好处】-- XPE 微量分析天平

【典型应用举例】-- XPE 微量分析天平