北京博晖创新光电技术股份有限公司原子荧光光谱仪参数
发布时间:2024-04-25 23:43
tel: 400-6699-117 转 6688北京博晖创新光电技术股份有限公司
- RGF-8780
- 原子荧光光度计
- AFS
- 北京
- 2013年10月10日
- As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn <0.01μg/L
- Hg、Cd <0.001μg/L
- Ge <0.05μg/L
- 相对标准偏差RSD <0.8%
- 线性范围:大于三个数量级
北京博晖创新光电技术股份有限公司
- RGF-6200
- 原子荧光
- AFS
- 北京
- 2013年9月12日
- 检出限:As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn <0.01μg/L
- 相对标准偏差RSD <0.8%
- 线性范围:大于三个数量级
- 噪声:≤2%
- 通道间干扰:±2%
北京博晖创新光电技术股份有限公司
- RGF-8750
- 原子荧光
- AFS
- 北京
- 2015年3月2日
- As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn <0.01μg/L
- 断续进样及连续进样方式两种,蠕动泵与注射泵进样自动切换
- 双检测器双通道检测
- 相对标准偏差RSD <0.8%
- 线性范围:大于三个数量级
北京博晖创新光电技术股份有限公司
- RGF-6300
- 原子荧光光度计
- AFS
- 北京
- 2013年10月17日
- 检出限:As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn <0.01μg/L
- 相对标准偏差RSD <0.8%
- 线性范围:大于三个数量级
- 漂移:≤2.0%
- 噪声:≤2%
北京博晖创新光电技术股份有限公司
- RGF-6800
- 原子荧光光度计
- AFS
- 北京
- 2013年6月29日
- As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn <0.01μg/L
- 相对标准偏差RSD <0.8%
- 线性范围:大于三个数量级
- Au <3.0μg/L
- Ge <0.05μg/L
北京博晖创新光电技术股份有限公司
- RGF-7800
- 原子荧光光度计
- AFS
- 北京
- 2013年12月20日
- 检出限:As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn <0.01μg/L
- 线性范围:大于三个数量级
- 相对标准偏差RSD <0.8%
- Hg、Cd <0.001μg/L
- Ge <0.05μg/L
北京博晖创新光电技术股份有限公司
- RGF-8640
- 原子荧光光度计
- AFS
- 北京
- 2013年11月
- As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn <0.01μg/L
- Hg、Cd <0.001μg/L
- Ge <0.05μg/L
- 相对标准偏差RSD <0.8%
- 线性范围:大于三个数量级
北京博晖创新光电技术股份有限公司
- RGF-8650
- 原子荧光光度计
- AFS
- 北京
- 2013年10月22日
- As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn <0.01μg/L
- Hg、Cd <0.001μg/L
- Ge <0.05μg/L
- 相对标准偏差RSD <0.8%
- 线性范围:大于三个数量级
北京博晖创新光电技术股份有限公司
- RGF-8680
- 原子荧光光度计
- AFS
- 北京
- 2013年10月22日
- As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn <0.01μg/L
- Hg、Cd <0.001μg/L
- Ge <0.05μg/L
- 相对标准偏差RSD <0.8%
- 线性范围:大于三个数量级
北京博晖创新光电技术股份有限公司
- RGF-8740
- 原子荧光光度计
- AFS
- 北京
- 2014年1月10日
- As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn <0.01μg/L
- Hg、Cd <0.001μg/L
- Ge <0.05μg/L
- 相对标准偏差RSD <0.8%
- 线性范围:大于三个数量级
北京博晖创新光电技术股份有限公司
- SA-6800
- 原子荧光形态分析仪
- AFS
- 北京
- 2014年8月23日
- zei小检出量(ng):As(Ⅲ)0.04;DMA 0.08;MMA0.08; As(Ⅴ)0.2
- 线性范围:大于三个数量级
- 形态分析精密度:<5%
- 形态分析时间:<10min
- 线性范围:大于三个数量级
北京博晖创新光电技术股份有限公司
- SA-7800
- 原子荧光光谱仪形态分析仪
- Atomic Fluorescence Spectroscopy
- 北京
- 2014年5月10日
- zei小检出量ng:AsIII 0.04;DMA0.08;MMA0.08;AsV 0.2
- 线性范围:>3个数量级
- 精密度RSD:<5%
- 分析时间:<10min
- 相关系数:>0.999
北京博晖创新光电技术股份有限公司
- SA-8740
- SA-8740型原子荧光形态分析仪
- SA-8740 atomic fluorescence speciation analyzer
- 北京
- 2014年8月2日
北京博晖创新光电技术股份有限公司
- SA-8650
- 原子荧光形态分析仪/液相-原子荧光联用仪
- LC-AFS
- 北京
- 2014年5月29日
- 检出限DL:As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn <0.01μg/L
- 相对标准偏差RSD <0.8%
- 形态检出限:AsIII 0.04ng
- 形态精密度:5%RSD
- 形态分析时间:<10分钟
北京博晖创新光电技术股份有限公司
- SA-8750
- 原子荧光形态分析仪/液相-原子荧光联用仪
- LC-AFS
- 北京
- 2014年9月30日
- 检出限DL:As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn <0.01μg/L
- 相对标准偏差RSD <0.8%
- 形态检出限:AsIII 0.04ng
- 形态精密度:5%RSD
- 形态分析时间:<10分钟
北京博晖创新光电技术股份有限公司
- SA-8680
- 原子荧光形态分析仪/液相-原子荧光联用仪
- LC-AFS
- 北京
- 2015年2月2日
- 检出限DL:As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn <0.01μg/L
- 相对标准偏差RSD <0.8%
- 形态检出限:AsIII 0.04ng
- 形态精密度:5%RSD
- 形态分析时间:<10分钟
北京博晖创新光电技术股份有限公司
- SA-8780
- 原子荧光形态分析仪/液相-原子荧光联用仪
- LC-AFS
- 北京
- 2015年3月30日
- 检出限DL:As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn <0.01μg/L
- 相对标准偏差RSD <0.8%
- 形态检出限:AsIII 0.04ng
- 形态精密度:5%RSD
- 形态分析时间:<10分钟
北京博晖创新光电技术股份有限公司
- RGF-7700
- RGF-7700原子荧光
- RGF-7700 AFS
- 北京
- 2014年
- 检出限DL: As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn <0.01μg/L
- 检出限DL:Hg、Cd <0.001μg/L
- 相对标准偏差RSD <0.8%
- 线性范围:大于三个数量级
北京博晖创新光电技术股份有限公司
- SA-6300
- SA-6300
- SA-6300
- 北京
- 2014年
- 检出限DL: As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn <0.01μg/L
- 检出限DL:Hg、Cd <0.001μg/L
- 相对标准偏差RSD <0.8%
- 线性范围:大于三个数量级
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