天瑞仪器X射线荧光测厚仪参数
发布时间：2024-04-25 22:56
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江苏天瑞仪器股份有限公司
- THICK680
- X荧光光谱
- XRF
- 江苏
- 2011年
- 垂直上照式X射线光学系统
- 标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
- 可测元素：Ti～U
- X射线管：管电压50KV，管电流1mA
- 检测器：正比计数管
江苏天瑞仪器股份有限公司
- Thick 800A
- 测厚仪
- XRF
- 江苏
- 2007年
- 元素分析范围：从硫(S)到铀（U）
- 同时分析元素：zei多24个元素，五层镀层
- 检出限：可达2ppm，
- zei薄可测试0.005μm 分析含量：一般为2ppm到99.9%
- 温度适应范围：15℃至30℃
江苏天瑞仪器股份有限公司
- Thick 8000
- 镀层测厚仪
- XRF
- 江苏
- 2007年
- 同时检测元素：zei多24个元素，多达5层镀层
- 检出限：可达2ppm，zei薄可测试0.005μm
- 分析含量：一般为2ppm到99.9%
- 镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）
- SDD探测器：分辨率低至135eV
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