日立扫描电镜SEM参数
发布时间：2024-04-24 21:45
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日立高新技术公司
- SU5000
- SU5000热场式场发射扫描电镜
- SU5000 thermal field field emission scanning electron microscope
- 日本
- 2014年8月4日
日立高新技术公司
- TM3030Plus
- 扫描电镜
- SEM
- 日本
- 2014年8月4日
- 加速电压：5kV/15kV/EDX
- 放大倍数：15 ～ 60,000 × （数码连续放大： - ×240,000）
- 信号选择：背散射电子/二次电子/合成
- 样品可移动范围：X: 35.0 mm, Y: 35.0 mm
- zei大样品尺寸：70 mm 直径
日立高新技术公司
- AeroSurf 1500
- AeroSurf 1500 台式大气压显微镜扫描电镜
- AeroSurf 1500 Tabletop Atmospheric Scanning Electron Microscope (ASEM)
- 日本
- 2016年3月7日
日立高新技术公司
- AeroSurf1500
- 扫描电镜
- SEM
- 日本
- 2016年
- 放大倍数：15~60,000(up to 240,000 with digital
- 加速电压：5kV/15kV/EDX
- zei大样品厚度：10mm
- 样品台横移：X：15mm，Y：15mm，Z：5mm
- 检测器：高灵敏度半导体四分割BSE探测器
日立高新技术公司
- 日立高新SU7000
- 超高分辨率肖基特场发射扫描电子显微镜
- Ultra-High-Resolution Schottky Scanning Electron Microscope SU7000
- 日本
- 2018年7月31日
日立高新技术公司
- Ethos NX5000
- 高性能FIB-SEM系统 Ethos NX5000
- Ethos NX5000 high performance FIB-SEM system
- 日本
- 2006年
日立高新技术公司
- 微型采样系统
- 聚焦离子束(FIB)微型采样系统用于STEM分析
- micro sampling system for FIB used for STEM analysis
- 日本
- 2016年10月16日
日立高新技术公司
- SU8700
- 日立肖特基场发射扫描电镜SU8700
- SU8700 Schottky field emission scanning electron microscopy
- 日本
- 2018年1月19日
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