釉面瓷砖防滑处理：微观结构和形貌的修饰（二）
图2～5显示瓷砖A和B未处理和已处理样品的典型SEM显微图。通过比较这些显微图（未处理样品与已处理样品相比较），可以推断出，表面处理蚀刻非晶相并使表面上存在的矿物（结晶）相在显微图上凸显出来[2–3]。
图2：低放大率下拍摄的瓷砖A未处理和已处理样品表面的典型SEM显微图：“A未处理”（a）和“A已处理”（b）。
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图3：高放大倍率下拍摄的瓷砖A未处理和已处理样品表面的SEM显微图：“A未处理”（a）和“A已处理”（b）。 |
图4：低放大率下拍摄的瓷砖B未处理和已处理样品表面的典型SEM显微图：“B未处理”（a）和“B已处理”（b）。
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图5：高放大倍率下拍摄的瓷砖B未处理和已处理样品表面的SEM显微图：“B未处理”（a）和“B已处理”（b）。 |
用10倍物镜共聚焦显微镜拍摄了两种瓷砖A样品（“A未处理”和“A已处理”）表面上一个区域（分别为2.93×2.2mm）的图像。图6中，“A未处理”和“A已处理”样品的图像为其表面形貌3D图，其中Z范围比色刻度尺以微米（µm）为单位。
通过比较图像，发现两种瓷砖A样品没有显著的形态差异。图6中两个同样区域的轮廓图（见图7）展示出表面上不同点的代表性水平曲线，这些点在微米尺度上具有相同的高度水平。从图上可知，两种样品不同点的水平曲线具有类似的形状。对于在每个被分析区域测得的粗糙度参数，其相关高度值也没有实质性差异（见表2）。
图6：瓷砖A未处理和已处理样品表面一个区域的带Z范围比色刻度尺的3D共聚焦显微镜图像（10×物镜）：“A未处理”[5.8mm×4.4mm×130.8μm]（a）和“A已处理”[5.8mm×4.4mm×141.6μm]（b）。
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图7：图6a和6b所示瓷砖A未处理和已处理样品表面区域的带Z范围比色刻度尺的轮廓图：“A未处理”（a）和“A已处理”（b）。 |
表2：图6所示瓷砖A未处理或已处理样品表面的一些涉及高度的粗糙度参数值（高斯截止滤光片：0.25mm）。
ISO 25178高度参数 | “A未处理” | “A已处理” | |
|---|---|---|---|
Sp（µm） | 最高峰高度 | 62.52 | 82.14 |
Sv（µm） | 最深的坑 | 74.41 | 65.34 |
Sz（µm） | Sp+Sv之和 | 136.93 | 147.49 |
Sa（µm） | 高度绝对值的算术平均值 | 12.06 | 11.05 |
高放大倍率（20×物镜）下成像的表面区域面积为2.92×1.71mm。被分析表面的3D图像（见图8）以及粗糙度参数（见表3），均表明两种瓷砖A样品（已处理和未处理）具有类似的纹理。
图8：瓷砖A未处理和已处理样品表面一个区域的带Z范围比色刻度尺的3D共聚焦显微镜图像（20×物镜）：“A未处理”[2.9mm×1.7mm×62.9μm]（a）和“A已处理”[2.9mm×1.7mm×68.6μm]（b）。
