SelexIon装置图
SelexION离子淌度差分质谱(Differential Mobility Spectrometry,DMS)于今年ASMS大会上推出，此项新技术为定量与定性分析的离子淌度质谱带来前所未有的性能以及突破的选择性。该技术技术使用在行业领先的质谱系列，即 TripleQuad™ 5500 系统和 QTRAP® 5500 系统上，使其具有一种新维度的选择性和分析性能，可用于分离同分异构体如手性药物拆分，消除共流出污染物的影响，降低高的背景噪音，提高数据质量，提高信噪比。
离子淌度差分质谱技术中的一个非常重要的概念就是离子淌度(Ion mobility spectrometry, IMS)。它是一种以化合物的气相离子在电场作用下发生迁移时的淌度来表征该化合物的方法。通常是根据离子在电场和气流的共同作用下的迁移率不同而对样品的不同组分进行分离检测的。