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新一代DELTA V系列同位素质谱仪基于单片电路分析框架，并不仅仅是对以往机型的重新设计，且体积更小。独特的分析平台与固定结合离子光学组件，对实现前所未有的分析能力，效率和可靠性迈出了一大步。它配置灵活，可适用于不同领域的使用要求。
原国家质检总局 教授
