高低温冲击试验箱试验要求及方法
高低温冲击试验箱主要用来测试材料广泛用于如：航天航空、科学研究、金属、连接器、光电光纤、LED模组、LCD、电路板、航天航空、塑料、橡胶、电子等材料行业必备的测试设备，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在zui短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。
1、试验目的：确定测试产品在周围大气温度急剧变化时的适应性及被破坏性。
2、试验条件：高温箱：RT～150℃，低温箱：RT～-40℃ RT～-55℃ RT～-65℃，试验温度保持时间：1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长者为准,循环次数：针对各个不同行业不同厂家所对应的试验要求不一样，按照标准上的试验方法测试。
3、恢复：测试产品从冷热冲击箱内取出后，应在正常的试验大气条件下进行恢复，直至试验样品达到温度稳定。
4、高低温冲击试验箱符合标准：
GB10592、GJB150.3、GJB150.4、GB/T2423.1.2、GB/T2423.2、GJB150.9-1986、GB/T5170.2-96《温度试验设备》、GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求、GJB150.3(ML-STD0-810D)高温试验方法、电工电子产品基本环境试验规程 试验Ca：恒定湿热试验方法GB/T 2423.3-93（IEC68-2-3）等标准。
5、高低温冲击试验箱要求：
a.采用高温箱和低温箱进行冷热冲击试验,以提供试验样品经受周围空气温度急剧发生变化的环境温度。
b.高温区的要求,应符合GJB150.3-86《jun用设备环境试验方法高温试验》的第3章各条所规定的要求。
c.低温区的要求，应符合GJB150.4-86《jun用设备环境试验方法低温试验》的第3章各条所规定的要求。
d.提供高温试验部分和低温试验部分,应分别符合GJB150.3-86和GJB150.4-86的第3章各条所规定的要求。
e.试验箱的容积应保证在试验样品放入候补超过试验温度保持时间的10%就能使试验箱(室)温度达到GJB150.1-89中3.2条规定的试验条件容差范围之内。
低温区、高温区转换时间≤15s。
温度恢复时间≤5min。
