X射线应力仪的测量原理
对于具有不粗糙晶粒且没有纹理的多晶材料，有许许多多个晶粒包含在在一束X光照射范围内其指定的晶面与试样表面平行。晶面法线与表面法线夹角是0，也一定有许多晶粒，其晶面法线与表面法线成任意的角度。shou先，以试样表面某点法线作为轴，将一束适当波长的X光和探测器（计数管）对称地向着该点O指着，并且同步地相向扫描使入射角和反射角发生变化。按照布拉格定律，平行于试样表面的）晶面的衍射峰和对应的衍射角能够被寻到。这个由X光束和计数管轴线组成的平面叫做扫描平面，衍射晶面的法线一定在扫描平面内，，并且处在X光束和计数管轴线二者角平分线的位置上。这时，衍射晶面平行于试样表面平行，扫描平面垂直于试样表面垂直，夹角为0。之后扫描平面将扫描平面以图A中直线OY为轴转过一个转过一个夹角，同样也能够使晶面的衍射峰和对应的衍射角获得，此时，衍射晶面法线与试样表面法线夹角为ψ。
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