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X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术,即是利用初级x射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子,使之产生荧光(次级x射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。
原国家质检总局 教授