x荧光分析已广泛应用于材料、冶金、地质、生物医学、环境监测、天体物理、文物考古、刑事侦察、工业生产等诸多领域，是一种快速、无损、多元素同时测定的分析技术，可为相关生产企业提供一种可行的、低成本的、及时的检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径。

X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度，也可以获得各元素的含量信息。

近年来，X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，特别是在RoHS检测领域应用得也广泛。

优点概述

1) 分析时间短。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。

2) 适用范围广。X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定 。

3) 非破坏分析，重现性好。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。

4) X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。

5) 制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。

6) 分析精密度高。