散射式近场光学显微镜的特点及实际应用
散射式近场光学显微镜建立在基于具有先进地位的纳米光学表征工具原子力显微镜AFM的基础之上。s-SNOM设计具有非常优秀的性能，高度集成，全面自动化，使用灵活，为研究生产力和易用性设定了新的标准。
特别适用于硬质材料，特别是具有高反射率、高介电常数或强光学共振的材料，可以完成对所有物质纳米尺度的化学性质分析及探索。
散射式近场光学显微镜的分辨率仅由AFM针尖的曲率半径决定，与入射光源的波长无关，能够在可见、红外和太赫兹光谱范围内，提供佳10nm空间分辨率的光谱和近场光学图像。
产品特点：
10nm空间分辨率近场成像和光谱；
特殊的快速成像和采谱技术，10倍于传统的空间光谱成像；
特殊的背景压制技术和高效光学信号收集技术，确保在10nm空间分辨率下仍然保持极高的信噪比；
预先校准光路，操作极其简便；
模块化设计，可拓展性强；
散射式近场光学显微镜重要应用领域：
研究样品化学组成；
低维体系表面激发（石墨烯/六方氮化硼等）；
极性晶体；
半导体纳米器件：纳米天线/纳米线/纳米颗粒；
超材料；
高分子/蛋白质/生物材料。
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综述
