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可以提供三维表面形貌图像,包括表面粗糙度、高度差和间距等,还可以测量样品的其他特性,例如电学、磁学、力学等特性。所以它可以应用在像聚合物、半导体、太阳能、生物医学、材料科学等广泛的领域。
原国家质检总局 教授