影响炉前碳硅分析仪的直接因素-温度
炉前碳硅分析仪是建立在温度测试的基础上，在温度测试中，环境温度和热分析仪内部温度对测试结果的影响不容忽视，环境温度和热分析仪内部温度变化不定会严重干扰仪器的正常工作或使仪器测试精度急剧下降，造成测试数据偏离真值，甚至会造成测试失败。
解决环境温度和热分析仪内部温度变化对炉前碳硅分析仪的影响的问题，我们采取以下几项措施：
1.采用高精度温度传感器对环境温度进行测量，测量数据送至微型计算机进行环境温度的实时补偿。
2.在供电电源上采用低压差集成式电源，此类电源效率高，功耗低，发热量极微。
3.优化电路结构，采用低功耗大规模集成芯片，减少芯片数量，使电路消耗功率成数量级的降低。
4.减少显示器的数量，显示器数量的增加虽然方便观察测试数据，但显示器的耗电量不容忽视，会造成供电电源负荷增加，使仪器内部温度大大高于环境温度，也会造成仪器内部温度不均衡，增加温度补偿难度，造成测试精度下降。
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