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追光之路丨安捷伦光谱再结硕果 记5800 ICP-OES首发

2019.11.05

  分析测试百科网讯 伴随着第十八届北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA 2019)的开幕,安捷伦科技在北京国家会议中心召开了“引领创新之路——安捷伦光谱全球新品5800 ICP-OES发布会”。安捷伦副总裁 光谱及真空产品总经理Philip Binns携企业高层,清华大学分析中心邢志老师、北京矿冶研究总院测试研究所冯先进研究员作为邀请嘉宾出席此次发布会。分析测试百科网作为支持媒体为您带来全程报道。

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安捷伦展台一景

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发布会现场

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安捷伦大中华区光谱产品市场经理冯旭主持此次发布会

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安捷伦副总裁光谱及真空产品总经理Philip Binns

  安捷伦副总裁光谱产品总经理Philip Binns发表主题为“安捷伦原子光谱发展与创新”的精彩演讲。报告围绕安捷伦光谱产品线、光谱技术的发展历程进行介绍。通过市场调研,安捷伦发现当前实验室样品测试结果需重复测试率达15%,主要原因是由于实验室缺乏有经验的操作者与人员的高流动性导致样品前处理或测试过程中出现错误。为解决实验室客户的困扰,安捷伦全球首发了5800 ICP-OES。凭借功能强大的 ICP-OES 软件以及超过100个内置传感器、智能算法和诊断功能的智能化监控体系,它可以在故障发生之前发现问题,从而尽可能消除由于实验人员操作问题产生的实验误差,同时最大程度延长正常运行时间并最大程度减少需要重新测定的样品数量。

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5800 ICP-OES揭幕仪式:

从左到右依次为:安捷伦副总裁光谱及真空产品总经理Philip Binns;

清华大学分析中心邢志老师;

北京矿冶研究总院测试研究所冯先进研究员 ;

安捷伦原子光谱全球市场经理Jeffrey Comerford

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5800 ICP-OES

  此次发布会为新一代5800 ICP-OES在中国的首次亮相,也是全球首发。它是世界上体积最小的ICP-OES,拥有全新的光学系统,带来更为卓越的仪器性能。

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清华大学分析中心邢志老师

  清华大学分析中心邢志老师发表主题为“原子光谱永不停机——ICP-OES技术进展”的精彩报告。邢志老师担任中国仪器仪表学会分析仪器原子光谱应用与技术专业委员会主任委员,在原子光谱应用和科研方面拥有多年经验,主持了多项国家自然科学基金、科技部重大科学仪器专项与首都科技条件平台等项目。报告对原子光谱的发展历史进行了回顾。通过对近十年ICP-OES发表文献统计得知,发射光谱的发展始终呈现上升趋势。此外,据中国知网显示,ICP-OES主要应用于环境、冶金、地质、农产品和医药卫生等领域。据Web of Science显示,该仪器则主要应用于基础研究、环境、食品、生物医药等领域。邢志指出,未来的ICP-OES将会进一步拓展检测的上、下限。在仪器小型化方面,相信在未来亦将实现突破性的发展。

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北京矿冶研究总院测试研究所冯先进研究员

  北京矿冶研究总院测试研究所冯先进研究员发表主题为“矿冶领域ICP-OES应用需求与发展”的精彩演讲。冯先进研究员主要从事原子光谱的应用研究及仪器研发工作,参与或主持了国家级、部级、市级和院级科研项目30余项,兼任北京理化分析测试技术学会光谱分会副理事长。报告介绍了ICP-OES技术的发展历史,ICP同时型(多道)商品仪器在1975年首次推出,在80-90年代仪器性能得到了迅速提高。在此之后,固态成像检测器和中阶梯光栅也相继被应用在新一代的ICP光谱仪当中。冯先进在报告中表示,基于ICP-OES可同时进行多元素快速分析,并具有动态线性范围宽等特性,可有效应用于种类繁多且基体复杂的矿冶领域,目前ICP-OES已逐渐发展成为这一领域当中元素分析的重要手段之一。

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安捷伦原子光谱高级应用工程师欧阳昆

  安捷伦原子光谱高级应用工程师欧阳昆发表题为“Agilent 5800 ICP-OES助您夺回浪费的时间”的精彩演讲。报告指出,全新Agilent 5800 ICP-OES光谱仪有两种配置:垂直双向观测 (VDV) 和径向观测 (RV)。5800通过传感器和计数器可进行智能仪器状态追踪,在系统需要维护时为用户提供指导,有效缩短停机时间、降低维护成本。此外,Neb Alert功能可持续监测雾化器,并在雾化器需要清洁或发生泄漏时进行提醒,避免时间浪费。此外,ICP Expert可实现自动化故障排除,包括拟合背景校正(FBC)、快速自动曲线拟合技术(FACT)、元素间校正(IEC)、IntelliQuant和智能冲洗。作为市面上最小的ICP-OES,它不仅可为用户节约宝贵的工作台空间,还可以降低使用维护成本,紧凑的光路布局能够实现快速吹扫,从而减少样品的测量等待时间。

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安捷伦光学研发专家Mark Junker

  安捷伦光学研发专家Mark Junker对5800 ICP-OES的全新光路系统进行解读。Mark Junker表示,拥有新型ZL技术的自由曲面光路系统主要由自由曲面准直镜、聚焦镜、棱镜光栅组件和第三代检测器组成。其中,准直镜采用特殊的磁流变加工工艺,从而使得新型自由曲面准直镜在极大程度上消除了整体光路系统的像差。其特殊的表面曲率,最佳地匹配了波长的范围,使得每一波段都可均匀准直并准确聚焦,消除了像散和聚焦的边缘效应,实现了更加紧凑,形状更优异的元素信号光斑,并得以高通量高灵敏度的进入检测器。最后报告指出,新一代5800 ICP-OES不但性能强大,安捷伦还将为中国客户额外提供一年免费电话支持与一年免费软件升级等支持。

媒体问答:

  发布会后,清华大学分析中心邢志老师,北京矿冶研究总院测试研究所冯先进研究员,安捷伦副总裁光谱及真空产品总经理Philip Binns,安捷伦原子光谱全球市场经理Jeffrey Comerford,安捷伦光学研发专家Mark Junker,安捷伦原子光谱高级应用工程师欧阳昆,安捷伦大中华区分子和原子光谱产品经理黄传旭,安捷伦大中华区光谱产品市场经理冯旭就新品5800 ICP-OES与现场媒体展开了进一步的交流。

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媒体问答合影

  自由曲面光学准直镜技术应用全新ICP-OES

  Philip Binns:安捷伦对发布的新品已不再强调检测灵敏度、分辨率等性能参数。因为这样的升级在我们看来再基础不过。

  5800 ICP-OES是目前市面上检测效率最高的产品之一。安捷伦将智能化的概念引入于这款仪器。它的内部安置了超过100个传感器,通过软件交互界面、数据库,智能化软件与传感器等硬件的结合,能够及时对样品与仪器自身的问题进行预警,并协助用户智能识别光谱干扰,并开发分析方法,从而得出专家级的检测结果。此外,在仪器中,安捷伦加入了全新的自由曲面光学准直镜技术,它可以有效改善检测器的边缘效应和像差,是安捷伦的重要里程碑。

  想你所想 忧你所忧

  Philip Binns:现在第三方检测机构特别多,绝大部分在规模上都是中小型,运行状况也都是处于起步阶段,有一个特点就是技术人员流失严重,因此导致检测人员经验缺乏。为了帮助客户对实验结果的确认建立信心,5800会提供更多关于样品或仪器的信息。对如雾化器或炬管等部件因高盐等原因造成堵塞等问题提前预警,提醒用户主动维护,保证数据准确。关于样品本身,可以针对不同样品,进行所有元素半定量分析,以及实现智能光谱干扰识别,自动推荐最佳谱线等功能。

  第二个例子关于未知样品方法开发的问题。很多客户对未知样品基质和干扰等信息不了解,增加了方法开发的困难。含有不同基体的样品,如何选择正确的波长。5800 ICP-OES同样可以帮您解决这一问题,5800可以智能地,自动识别并评估光谱干扰等因素,从而获得更高级别的样品洞察,针对波长进行星级选择排序,从而为您推荐最佳波长。

  ICP-OES?ICP-MS?谁取代谁?

  冯先进: ICP-OES和ICP-MS,这两个仪器是有交叉的,但是任何一个仪器都不可能替代另外一个仪器。分析方面,ICP-OES的检出限不及ICP-MS,但是它的应用更为广泛,要知道仅金属就有几十种,再加上各种精矿、尾矿就更为复杂了,这时候ICP-OES的优势就显现出来了。而ICP-MS则更多应用于实验室做痕量、超痕量元素分析或同位素分析,但ICP-OES通过分离手段也是可以做一部分超痕量的元素。除此之外,ICP-MS还有一个问题在于锥口容易污染,做复杂基体痕量元素时存在交叉污染,而ICP-OES就不存在这一问题。总之,我们的原则就是能用ICP-OES就不要用ICP-MS。

  邢志:市场容量方面,ICP-MS近年来热度很高,增长量也不少,但相较于ICP-OES(ICP光谱),它对环境的要求更为苛刻,普及率(几千台)不及后者(几万台)。从技术与原理方面来看,ICP-MS灵敏度更高毋庸置疑,虽然ICP光谱的灵敏度也越来越高,但ICP-MS还可以做同位素,而ICP光谱做不了;ICP-MS可以很容易与其它仪器联用,而光谱联用受灵敏度和检出能力的制约,很难找到更好的应用方向。就日常使用来看,针对绝大多数微量元素分析,ICP光谱已经满足了日常工作需求;就购置和使用成本而言,在不进行更低量级分析时,成本更具优势的光谱仪器仍然是实验室工作者的不二之选。因此,两款仪器各有所长,此消彼长,是不能互相替代的。

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