X射线荧光分析法的应用特点
X射线荧光分析法用于物质成分分析,检出限一般可达3-10~10-6克/克(g/g),对许多元素可测到10-7~10-9g/g,用质子激发时 ,检出可达10-12g/g;
强度测量的再现性好;
便于进行无损分析;
分析速度快;应用范围广,分析范围包括原子序数Z≥3的所有元素。
除用于物质成分分析外,还可用于原子的基本性质如氧化数、离子电荷、电负性和化学键等的研究。
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X射线荧光分析法用于物质成分分析,检出限一般可达3-10~10-6克/克(g/g),对许多元素可测到10-7~10-9g/g,用质子激发时 ,检出可达10-12g/g;
强度测量的再现性好;
便于进行无损分析;
分析速度快;应用范围广,分析范围包括原子序数Z≥3的所有元素。
除用于物质成分分析外,还可用于原子的基本性质如氧化数、离子电荷、电负性和化学键等的研究。