扫描电镜主要用于观察什么材料？
扫描电子显微镜（SEM）是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态。扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
扫描电镜可以直接观察观察纳米材料，进行材料断口的分析，直接观察原始表面等。
扫描电镜能够直接观察直径100mm,高50mm,或更大尺寸的试样,对试样的形状没有任何限制,粗糙表面也能观察,这便免除了制备样品的麻烦,而且能真实观察试样本身物质成分不同的衬度（背反射电子象）.
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