七大材料结构分析方法七——探针和扫描显微分析
所谓探针，就是探测固体表面信息的针。探针射向或接近固体表面某微区，所激发的某些物理信号携带该微区的结构信息。
常用仪器：电子探针X射线显微分析仪（EPA），俄歇电子能谱（AES），X射线光电子能谱仪（XPS），扫描隧道显微镜，原子力显微镜，飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）等
应用实例：
拉伸断口扫描电子显微镜分析
拉伸断口扫描电子显微镜图
图a是环氧树脂经过放大100倍后的照片，由图片可以看出，破坏的断口表面呈片状层叠，对其放大到2 000倍后见图b可以观察每个片状层又比较光滑，测试观察到在破坏环氧树脂前出现颈缩所以判断此种断口为韧性破坏状态。图c是不饱和聚酯树脂经过放大100倍的照片，图片显示的断面与环氧树脂断面完全不同，对其放大到2 000倍后见图d断面出现了大量纹路根据力学性能的结果分析此种断口破坏应为脆性破坏。
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