GB/T6547 ASTM D645纸张测厚仪
GB/T6547 ASTM D645纸张测厚仪
Labthink兰光CHY-C2 纸张测厚仪符合GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817标准，适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。
CHY-C2 纸张测厚仪特 征
微电脑控制、液晶显示
菜单式界面、PVC操作面板
接触式测量
测头自动升降
手动、自动双重测量模式
数据实时显示、自动统计、打印
显示zui大值、zui小值、平均值和统计偏差
标准接触面积、测量压力（非标可选）
标准量块标定
微型打印机
RS232接口
网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输
CHY-C2 纸张测厚仪技术指标
测量范围：0～2mm（常规）
0～6mm；12mm（可选）
分 辨 率：0.1μm
测量速度：10次/min（可调）
测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
电 源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：300 mm （L）×275 mm （B）×300 mm （H）
净 重：33kg
推荐
