原位TLC-FTIR法
该方法是采用红外漫反射光谱（DRIFTS）测定法对TLC板上的色谱斑点进行直接检测，最初是在1975年由Percival和Griffiths报道的。傅里叶红外光谱仪的漫反射装置见图11-6-25。一般在未点样前先测得薄层板背景光谱图，点样层析后再测得同样位置的分离谱带的红外光谱图，前后谱图经差谱可得分离谱带物质的校正光谱图。
原位TLC-FTIR法受薄层板强的吸收背景影响较严重，常见硅胶板和氧化铝的漫反射光谱图见图11-6-26所示。显然，固定相强的光谱吸收会干扰分析物的检测或使分析物的谱图严重畸变。一般来说，至少要用1μl物质才能记录到分析物的官能团信息，若进行局部光谱记录则要约10μl，而且需要多次光谱数据累加，因原位TLC-FTIR法只能通过常规薄层色谱实现。
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