用X射线能谱(TEM)分析晶界偏析的方法
本文利用EM400T透射电子显微镜和EDAX9100能谱仪研究微量元素在晶界的偏聚。通过本文采用的电子束直径小到40A的微探针,低背底样品台,沿晶界拉长束斑,分段积分等措施,明显地提高了分析灵敏度。用这种方法测量了含磷820ppm的Si-Mn高强度钢和含镁94ppm的GH169高温合金中P和Mg的晶界偏析,测出含P820ppm钢的晶界区含P量为0.46％,经计算后相当晶界含P量为2.3％,而用俄歇谱仪测出晶界含P量为1.2～3.9％。同样测出含P160ppm钢的晶界含P量为1.5％。对含Mg94ppm的GH169高温合金,测出晶界含Mg量为1.8％,而含MC型炭化物的晶界含Mg量更高,达4％。
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