多晶衍射法的照相法相关内容
照相法以光源发出的特征X 射线照射 多晶样品，并用底片记录衍射花样。根据 样品与底片的相对位置，照相法可以分为德拜法、聚焦法和针孔法，其中德拜法应用最为普遍。
德拜法以一束准直的特征X 射线照射到小块粉末样品上，用卷成圆柱状并与样品同轴安装的窄条底片记录衍射信息，获得的衍射花样是一些衍射弧。此方法的优点为：⑴ 所用试样量少（0.1毫克即可）；⑵ 包含了试样产生的全部反 射线；⑶ 装置和技术比较简单。
聚焦法的底片与 样品处于同一 圆周上，以具有较大发散度的单色X 射线照射样品上较大区域。由于同一 圆周上的同弧 圆周角相等，使得 多晶样品中的等同晶面的衍射线在 底片上聚焦成一点或一条线。聚焦法 曝光时间短，分辨率是德拜法的两倍，但在小θ 范围衍 射线条较少且宽，不适于分析未知样品。
针孔法用三个针孔准直的单色X 射线为光源，照射到平板样品上。根据 底片不同的位置针孔法又分为穿透针孔法和背射针孔法。针孔法得到的衍射花样是衍 射线的整个圆环，适于研究晶粒大小、晶体完整性、宏观残余应力及 多晶试样中的择优取向等。但这种方法只能记录很少的几个衍射环，不适于其它应用。
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