实验室光学仪器--X荧光光谱仪定量分析中的不确定度来源

在X射线荧光光谱定量分析中,导致分析结果具有一定不确定度的因素很多。多数情况下,很难直接计算出每一种因素所引起的不确定度分量。但在实际分析过程中,所有不确定度分量中,往往其中的某个或者某几个分量就决定了合成不确定度的大小,因此,对于这几个不确定度分量必须仔细分析其来源,并正确估计其对合成标准不确定度的贡献。

在X射线荧光光谱定量分析过程中,每一个步骤都有可能引起不确定度的因素,主要有以下几个方面:

1)取样

取样必需具有代表性。

2)样品处理  

为了适于测量并且与标准比较,原始样品通常需要经过各种方法处理如粉碎,干燥、压片、熔融等,在此过程中,污染称量的准确性、均匀性、熔融时的挥发和分解、偏析状态如化学态的改变颗粒度、表面光滑程度、压片时的压力导致的密度差异、熔样时温度的稳定性等因素都是导致不确定度的因素,这可以用制样的重复性来估计。

 3)强度测量

仪器稳定性、计数统计误差、谱线重叠和背景、仪器分辨力样品的无限厚假设、死时间校正、计数器饱和、光路和靶材杂质、真空度、宇宙射线、供电源稳定性、操作失误(如测量条件选择不当)、环境如温度的稳定性等都可以成为强度测量过程中不确定度的来源。

4)数据处理

标样数据的不确定度、基体校正的完善性(矿物效应理论系数的准确性)、定义和理论(数学模型、高次荧光的忽略简化)的正确性、计算过程(如回归)数值修约等都可以成为数据处理过程中不确定度的来源。