关注公众号

手机查看

分析测试百科网 > 行业资讯 > 技术原理

影响X荧光光谱仪的定量分析的因素

2022.9.26

　　1、待测元素的浓度；

　　2、仪器校正因子；

　　3、测得的待测元素X射线荧光强度，经过背景、谱线和死时间校正后，获得的纯强度；

　　4、基体效应及校正。

互联网

喜欢作者我要约稿

上一篇 | 下一篇

推荐

推荐作者

周锦帆

原国家质检总局教授

热点排行

一周推荐