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岛津亮相“国际化学年在中国”
岛津亮相“国际化学年在中国”
——中国化学会超分子凝胶与自组装材料研讨会
为了交流我国学者在超分子凝胶与自组装材料领域中的最新研究成果，由中国科学院化学研究所与陕西师范大学联合举办的“国际化学年在中国——中国化学会超分子凝胶与自组装材料研讨会”于2011年11月8-10日在陕西师范大学启夏苑隆重召开。
会议以“化学——我们的生活，我们的未来”为主题，旨在通过大会报告与邀请报告展示近年来超分子凝胶与自组装材料方面的新成果、新进展，重点探讨我国近十年来超分子凝胶与自组装材料快速发展中的关键科学问题、重要的研究进展与动态。进一步促进和活跃我国超分子化学、软物质材料科学的发展。
“国际化学年在中国”会议开幕式
岛津公司大型仪器市场部 龚沿东研究员做了题为《使用MEM方法进行元素分布重构的XPS无损深度剖析技术》的大会报告。他介绍了岛津/KRATOS 高性能成像X射线光电子能谱仪 AXIS-ULTRADLD 加配无损深度剖析重构软件，能够在不使用离子源对样品进行刻蚀的情况下分析样品的表面深度信息结构，目前该软件的用户已经在国际知名杂志上发表了数篇出色研究成果。此外，配置Ar/C24H12双模式离子枪，该离子枪的C24H12离子源可实现不改变有机材料化学状态的深度剖析，避免以往Ar离子源刻蚀导致有机材料化学状态改变的弊端。
岛津市场部 龚沿东研究员 做大会报告
岛津/KRATOS 高性能成像X射线光电子能谱仪 AXIS-ULTRA DLD型，采用合理设计的双层能量分析器，既可获得高能量分辨和高灵敏度的XPS谱，也可以在数秒至数十秒的时间内得到空间分辨优于3μm的高分辨元素化学状态像，是真正的成像XPS;结合先进的新一代二维阵列延迟线检测器(Delay Line Detector)，可以对样品进行超快速分析，并实现快拍采谱(Snap Shot)和从图得谱(Spectra from Images)等功能。使用特殊设计的虚拟探针技术，若在图像上以鼠标点击指定分析位置，则无需移动样品，便可进行最小至15μm微小区域的多点谱分析。
正因为岛津XPS仪器本身技术的先进性，受到与会专家学者的关注。在茶歇时间，一位刚刚从欧洲回国的中科院专家谈起在欧洲的研究，在该领域研究中用过多台KRATOS XPS ，令他感到高兴的是国内也开始使用高端XPS进行相关研究，相信不久将跻身世界科研先进水平行列。
什么是XPS?
X射线光电子能谱仪(X-ray Photoelectron Spectroscopy，简称XPS)是广泛应用于材料科学领域的高技术分析仪器，主要用于固体材料的表面(2～3nm深度)元素成分和价态的定性和定量分析，与成像功能和离子溅射刻蚀相结合，也可以用于固体表面元素成分及价态的二维面分析和深度剖析，在纳米材料、高分子材料、材料的腐蚀与防护、各类功能薄膜的机理研究、催化剂研究与失效等方面具有不可替代的作用。
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