能量色散型X射线荧光分析仪的主要技术指标
分析原理 能量色散X射线荧光分析法
分析元素 Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）
Na～U(任选：φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型）
检出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm
样品形状 最大460×380mm(高150mm)
样品 塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体
样品室气氛 大气
X射线管 靶材 Rh
管电压 最大50KV
管电流 最大1mA
X射线照射径 1/3/5mm
防护 <0.1mR/Hr (辐射低于电脑屏幕）
检测器 硅SIPIN探测器
光学图像观察 倍率15倍
软件 定性分析：自动定性（自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移）
照射径： 1/3/5mm
定量分析： 基础参数法/标准法/1点校正
计算机 CPU PentiumIV1.8GHz以上
内存 256MB以上
硬盘 20GB以上
OS WindowXP
监视器 17寸LCD
周围温度 10～35。C（性能温度）/5～40。C（动作温度）
周围湿度 5～31。C时温度范围：最大相对湿度80%以下
31～40。C时温度范围：相对湿度50%以下
电源 AC110V/220V±10%、50/60HZ
消耗电力 1.3KVA以下（含计算机、LCD、打印机）
设备重量 约65kg(不含桌子、计算机）
外形寸法 600（W）×545（D）×435（H）mm
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