原子力显微镜（Atomic Force Microscope ，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它将与其相互作用，作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面结构信息。

应用简述

H74在冷冻环境下的应用比较成熟，一款相当优秀的导热胶，已经成功应用在原子力显微镜上样品盘的结构粘接。对陶瓷和金箔具有相当良好的粘接力。并且具有可以再低温下固化的特点，明显减小了应力的问题。

可靠性：

H74可以再700℃左右的高温下，持续工作5分钟，不会有明显问题。

另外，如还需通过在一些冷冻条件的应用，我们推荐室温固化的，更软的一些产品如T7109-19or T7110。