表面污染的间接测量简介
对于间接测量的擦拭样品，应该用很好屏蔽的固定测量装置进行测量。该装置应能测量低于规程限值的面活度。大多数设备能够探测活度低于0. 4 Bq的α 污染，或低于4 Bq的β污染。对于覆盖100 cm2的擦拭样品（隐含去除因子F=O.1），测量非固定α 污染的面活度浓度可小于0.04 Bq •cm 2 ，对自发射体小于0. 4 Bq •cm 2是可能的。
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对于间接测量的擦拭样品，应该用很好屏蔽的固定测量装置进行测量。该装置应能测量低于规程限值的面活度。大多数设备能够探测活度低于0. 4 Bq的α 污染，或低于4 Bq的β污染。对于覆盖100 cm2的擦拭样品（隐含去除因子F=O.1），测量非固定α 污染的面活度浓度可小于0.04 Bq •cm 2 ，对自发射体小于0. 4 Bq •cm 2是可能的。
