X射线粉晶衍射仪(XRD)
1.仪器设备简介
【仪器名称】X射线衍射仪
【生产公司】德国Bruker AXS D8-Focus
【仪器型号】D8-FOCUS
【测试条件】CuKα射线，Ni滤波，40kV，40mA，LynxEye192位阵列探测器，扫描步长0.01°2θ，扫描速度每步0.05秒，λ= 1.540598A
【仪器价格】96.2万人民币
【功能】
1. 粉末物质物相定性分析
2. 粉末物质物相定量分析
3. 纳米物质晶粒大小测定
4. 晶格常数测定
Sample: corundum
测量条件：
u 40KV,40mA
u 4.00Soller slit
u Scanspeed 0.05 sec/step
u Increment 0.01
1光源：采用先进的陶瓷光管，具有质量好、寿命长、强度衰减小的特点。
2测角仪：D8系列测角仪采用大轴设计方案，稳定性好、精度高（角度重现性0.0001度）。步进马达+光学编码器确保测角仪快速准确定位，并能减少测角仪的磨损。
3 探测器：LynxEye林克斯一维阵列探测器
a) 由192个子探测器阵列组成，在相同条件下，与常规的闪烁计数器相比，强度增益高达150倍。
b）良好的低角度测量：LynxEye探测器克服了常规阵列探测器低角度性能欠佳的弱点。
c)具有很低的背景，动态范围很高，其192个子探测器每个子探测器的计数范围高达70万cps。
4杰出的低角度分析功能
a)最低角度可做到0.2度；
b)广角、小角互换无需对光；
c)适合介孔、层状材料、纳米材料。
5分析软件
EVA物相分析软件、TO PAS线形分析软件、Rietveld分析软件、PDF卡数据库。
2.测试项目
物相分析，薄膜物相，粉末物质物相定性分析、 粉末物质物相定量分析、 纳米物质晶粒大小测定、晶格常数测定、结晶度计算等。
3.送样要求
l 样品的量：最好多于0.5克；
l 样品粉末粒级通过200-300目；
l 块状样样品小于1cm，表面平整；
l 液体及胶体样品无法检测。。
