中科院上海硅酸盐研究所——透射电镜分析
一、JEM-2100F场发射透射电子显微镜
仪器参数：
超高分辨极靴 (UHR)
点分辨率：0.19nm；线分辨率：0.14nm
STEM (HAADF)分辨率：0.20nm
最小束斑：0.2nm
样品杆最大倾斜角 (X、Y): ±25°
Oxford能谱仪 (EDS) 能量分辨率：~130eV (MnK线)
元素范围：5B ~ 92U
设备功能：
主要用于无机材料微观结构与组成的分析和研究，仪器的功能包括：
电子衍射：选区衍射、微束衍射、会聚束衍射
成像：衍衬像（明、暗场像）、高分辨像 (HREM)、扫描透射像 (明场像、环状暗场像)
微区成分：EDS能谱的点、线和面分析
原位表征：温场下的结构演变 (加热样品杆附件：室温~1000°C)
应用范围
材料范围：除磁性材料之外的任何无机材料，包括粉体、薄膜和块材；不适用于有机和生物材料
表征范围：微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布
晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成
结构相变原位研究
联系方式：
联系人：张琳琳
地址：上海市定西路1295号3号楼105室
电话：021-52413104
二、JEM-1400 120kV透射电子显微镜
仪器参数:
加速电压：60~120kV可调
点分辨率：0.38nm；线分辨率：0.20nm
样品最大倾斜角：?25?
Oxford能谱仪 (EDS)：80mm2探头；5B~92U；能量分辨率：127eV (Mn K?线)
三维重构：样品杆最大倾角?70?；三维重构软件包
设备功能:
主要用于无机、有机和生物材料的形貌和组成分析，仪器的功能包括：
电子衍射、形貌像、组成的EDS能谱分析、形貌的三维重构
应用范围:
材料范围：除强磁性材料之外的任何无机材料，包括粉体、薄膜和块材；有机和生物材料
表征范围：微观形貌、颗粒尺寸、化学组成、三维重构等
联系方式：
联系人：姚鹤良
地址：上海市定西路1295号3号楼104室
电话：021-52413104
三、FEI Tecnai G2 F20场发射透射电子显微镜
仪器参数：
加速电压：200kV
高分辨极靴 (S-TWIN)
点分辨率：0.24nm；线分辨率：0.14nm
STEM (HAADF)分辨率：0.19nm
电子束能量色散：<0.7eV
最大束流：>100nA；1nm束斑最大束流：>0.5nA
样品最大倾斜角：?40?
EELS (Gatan Enfina)能量分辨率：0.7eV
EDAX能谱仪 (EDS)：5B~92U；能量分辨率：~130eV (Mn K?线)
设备功能：
主要用于无机材料微结构与微区组成的分析和研究，仪器的功能包括：
电子衍射：选区衍射、微束衍射、会聚束衍射
成像：衍衬像（明、暗场像）、高分辨像 (HREM)、扫描透射像（明场像、环状暗场像、Z-衬度像）
微区成分：EELS和EDS能谱的点、线和面分析
应用范围：
材料范围：除磁性材料之外的任何无机材料，包括粉体、薄膜和块材；不适用于有机和生物材料
表征范围：微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等
联系方式：
联系人：张琳琳
地址：上海市定西路1295号3号楼105室
电话：021-52413104
