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样品深层产生的光电子在逸出表面的过程中会与样品原子发生非弹性碰撞而损失能量,只有表面或表面以下几个原子层中产生的光电子才会对XPS峰有贡献,所以XPS对表面分析的灵敏度很高。
原国家质检总局 教授